[发明专利]光谱分析设备、光谱分析方法以及光谱图显示的方法

权利要求书

1.一种微粒分析设备，包括：

光源，向多个微粒发射具有第一波长区域的光；

检测器，被配置为同时检测从所述多个微粒产生的在多个波长区域中的荧光；

显示器，被配置为在其上显示在所述多个波长区域中的每个波长区域的检测数据，其中，在所述多个波长区域中的每个波长区域的所述检测数据具有多种颜色；以及

在每个波长区域中的每个荧光强度处的相应的颜色指示在该波长区域中的该荧光强度处的微粒的累计数，

其中，所述检测数据基于相同波长区域和相同荧光强度并且被映射用于所述多个波长区域中的每个波长区域和每个荧光强度，以及

其中，在所述第一波长区域中的所述检测数据被限制为防止来自光源的光的泄露。

2.根据权利要求1所述的微粒分析设备，其中：

所述检测器包括具有不同检测波长带的多个独立检测通道的光接收元件阵列。

3.根据权利要求2所述的微粒分析设备，其中，至少具有长波长的检测通道的检测波长带宽比具有短波长的检测通道的检测波长带宽宽。

4.根据权利要求3所述的微粒分析设备，其中，所述显示器显示表示所述检测数据的光谱图，在所述光谱图中，在输出值大于预定值的区域中，所述输出值的轴被设置为对数轴，并且在所述输出值小于所述预定值的区域中，所述输出值的轴被设置为线性轴。

5.根据权利要求4所述的微粒分析设备，

其中，所述微粒分析设备还包括处理单元，所述处理单元根据每个光接收元件的检测波长带宽校正所述检测数据。

6.根据权利要求4所述的微粒分析设备，其中，所述微粒分析设备还包括处理单元，所述处理单元被配置为基于多个所述光接收元件的灵敏度来校正所述检测数据。

7.一种微粒分析方法，包括：

向多个微粒发射具有第一波长区域的光；

同时检测从所述多个微粒产生的在多个波长区域中的荧光；以及

显示在所述多个波长区域中的每个波长区域的检测数据，其中，在所述多个波长区域中的每个波长区域的所述检测数据具有多种颜色，

其中，在每个波长区域中的每个荧光强度处的相应的颜色指示在该波长区域中的该荧光强度处的微粒的累计数，

其中，所述检测数据基于相同波长区域和相同荧光强度并且被映射用于所述多个波长区域中的每个波长区域和每个荧光强度，以及

其中，在所述第一波长区域中的所述检测数据被限制为防止来自光源的光的泄露。

8.根据权利要求7所述的微粒分析方法，其中，

所述荧光由包括具有不同检测波长带的多个独立检测通道的光接收元件阵列检测。

9.根据权利要求8所述的微粒分析方法，其中，

至少具有长波长的检测通道的检测波长带宽比具有短波长的检测通道的检测波长带宽宽。

10.根据权利要求9所述的微粒分析方法，进一步包括：

显示表示所述检测数据的光谱图，在所述光谱图中，在输出值大于预定值的区域中，所述输出值的轴被设置为对数轴，并且在所述输出值小于所述预定值的区域中，所述输出值的轴被设置为线性轴。

11.根据权利要求9所述的微粒分析方法，进一步包括：

根据每个光接收元件的检测波长带宽校正所述检测数据。

12.根据权利要求9所述的微粒分析方法，进一步包括：

基于多个所述光接收元件的灵敏度来校正所述检测数据。