[发明专利]一种涂层测厚仪探头

说明书

本发明公开了一种新型涂层测厚仪探头，包括外壳体和探头，外壳体前端设置通孔，且通孔内径与探头外径一致，探头一端伸出外壳体外部，另一端设置在外壳体内腔，且探头通过信号线连接设置在外壳体内腔的电路板，电路板通过信号线连接测厚仪监测终端，还包括缓冲组件，缓冲组件设置在探头与电路板之间，还包括吹气组件，吹气组件包括气管和微型气泵，外壳体前端通孔两侧分别设置吹气孔，气管一端固定在吹气孔处，另一端连通设置在外壳体外部的微型气泵，外壳体内壁上还固定设置有屏蔽片，本发明结构原理简单，缓冲效果好，防止损坏探头，同时还能够对探头表面进行吹气除尘，提高了测厚精度，此外，还具有电磁屏蔽功能，进一步提高测厚精度。

技术领域

本发明涉及测厚仪技术领域，具体为一种涂层测厚仪探头。

背景技术

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，而涂层测厚仪探头则是其最为重要的部件，影响到测量效率及测量精度。根据测量原理，涂层测厚仪探头一般分为磁性测厚探头、涡流测厚探头、超声测厚探头。而应用最为广泛的则是磁性测厚探头和涡流测厚探头。

现有技术中涂层测厚仪探头直接贴覆于产品表面进行测量，如果测量过程中受力过大，容易损坏，此外，探头暴露在空气中容易有灰尘覆盖在表面，影响测量精度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种涂层测厚仪探头，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种涂层测厚仪探头，包括外壳体和探头，所述外壳体前端设置通孔，且所述通孔内径与探头外径一致，所述探头一端伸出外壳体外部，另一端设置在外壳体内腔，且所述探头通过信号线连接设置在外壳体内腔的电路板，所述电路板通过信号线连接测厚仪监测终端，还包括缓冲组件，所述缓冲组件设置在探头与电路板之间，还包括吹气组件，所述吹气组件包括气管和微型气泵，所述外壳体前端通孔两侧分别设置吹气孔，所述气管一端固定在吹气孔处，另一端连通设置在外壳体外部的微型气泵，所述外壳体内壁上还固定设置有屏蔽片。

优选的，所述缓冲组件包括滑动轴、滑动轴承、固定块、压缩弹簧，所述滑动轴固定设置在探头一侧，所述滑动轴承设置在滑动轴上，所述固定块设置在滑动轴承两侧，所述压缩弹簧设置在滑动轴承上方。

优选的，所述屏蔽片采用铁氧体磁片和石墨片，所述石墨片覆盖在铁氧体磁片表面，所述铁氧体磁片贴合于外壳体内壁。

优选的，所述通孔的内壁还固定设置密封垫圈。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

(1)本发明结构原理简单，在探头与电路板之间设置缓冲组件，能够提高缓冲效果，防止探头在测量过程中受力过大造成损坏；此外，外壳体前端通孔两侧分别设置吹气孔，气管一端固定在吹气孔处，另一端连通设置在外壳体外部的微型气泵；采用此结构，能够实现对探头表面进行吹气除尘，提高了测厚精度。

(2)本发明中，屏蔽片采用铁氧体磁片和石墨片，石墨片覆盖在铁氧体磁片表面，铁氧体磁片贴合于外壳体内壁，采用此结构，能够提高外壳体的电磁屏蔽功能，进一步提高测厚精度。

附图说明

图1为本发明整体结构示意图；

图2为本发明缓冲组件结构示意图；

图3为本发明底座屏蔽片剖视图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。