[发明专利]一种电子电路的测试装置

权利要求书

1.一种电子电路的测试装置，其特征在于，包括：控制电路、时钟源电路、驱动电路和测试电路，所述控制电路分别与所述时钟源电路和所述驱动电路连接，所述控制电路用于根据控制信号向所述驱动电路发送驱动信号，进而驱动所述测试电路对电子电路的性能进行测试，所述时钟源电路用于为所述控制电路提供外部时钟，使所述控制电路驱动所述驱动电路改变所述测试电路与所述电子电路的连接关系，以完成对所述电子电路的不同性能的测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试电路包括多个测试子电路，每个测试子电路用于对所述电子电路的不同性能进行测试，所述控制电路驱动所述驱动电路改变所述测试电路中不同测试子电路通过导通开关与所述电子电路的连接关系，以对所述电子电路的不同性能的测试。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，每个所述的测试子电路分别设置有指示灯，当所述测试子电路通电对所述电子电路进行测试时，所述指示灯点亮。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述导通开关接收到所述驱动电路的电信号后，依次连通不同的所述测试子电路，以自动对所述电子电路的不同性能进行测试。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，在下一所述测试子电路连通时，断开上一所述测试子电路。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述控制电路还包括存储模块，所述存储模块用于存储控制固件。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，还包括输入端口，所述输入端口与所述存储模块连接，所述输入端口用于向所述存储模块导入控制固件。

8.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述导通开关包括多个测试切换单元，所述测试切换单元用于改变所述测试电路中不同测试子电路与所述电子电路的连接关系。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电子电路上设置有指示灯，用于显示所述测试装置对所述电子电路的测试结果。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述驱动电路包括指示灯驱动电路，所述指示灯驱动电路用于控制所述指示灯亮暗的先后顺序，以显示所述测试装置对所述电子电路测试的先后顺序。

11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括供电电路，所述供电电路用于向所述控制电路、所述时钟源电路、所述驱动电路和所述测试电路供电。

12.根据权利要求11所述的测试装置，其特征在于，所述供电电路包括分压模块，所述分压模块用于对电源电压进行分压，以向所述控制电路、所述时钟源电路、所述驱动电路和所述测试电路和所述电子电路分别供电。

13.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：控制开关，所述控制开关用于生成所述控制信号，所述控制电路接收到所述控制信号后控制所述测试装置开始或结束对所述电子电路的测试。

14.根据权利要求13所述的测试装置，其特征在于，所述控制开关的数量为多个，一个控制开关对应一个所述测试电路。