[发明专利]一种CT数据校正方法及一种阶梯测试件有效

专利信息
申请号: 201710690807.6 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN107563972B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 邱焓;王珏;蔡玉芳;邹永宁;刘荣;苏志军;穆洪彬 申请(专利权)人: 重庆真测科技股份有限公司;重庆大学;中国人民解放军96630部队
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;A61B6/00
代理公司: 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 代理人: 张景根
地址: 400000 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 ct 数据 校正 方法 阶梯 测试
【权利要求书】:

1.一种CT数据校正方法,其特征在于:包括暗场校正,空气校正和CT数据非线性校正,具体步骤如下,

步骤1.用CT系统采集暗场数据DARK(i)与空气数据AIR(i);

步骤2.用CT系统扫描阶梯测试件,采集阶梯CT数据Ladder(Dk,i);

步骤3.用CT系统扫描待测件,采集待校正CT数据CTData(i);

步骤4.对阶梯CT数据进行暗场校正和空气校正,

LadderAD(Dk,i)=(Ladder(Dk,i)-DARK(i))/(AIR(i)-DARK(i))*meani(AIR(i)-DARK(i));

步骤5.对待校正CT数据进行暗场校正和空气校正,

CTDataAD(i)=(CTData(i)-DARK(i))/(AIR(i)-DARK(i))*meani(AIR(i)-DARK(i));

步骤6.对校正后的阶梯CT数据进行自然对数处理,得到对数阶梯CT数据,对校正后的待校正CT数据进行自然对数处理,得到对数CT数据,

Ladder_Ln(Dk,i)=ln(AIR(i)-DARK(i)/LadderAD(Dk,i))

CTData_Ln(i)=ln(AIR(i)-DARK(i)/CTDataAD(i));

步骤7.对所述对数阶梯CT数据进行5阶或6阶多项式拟合,得到拟合对数阶梯函数,作出拟合对数阶梯函数曲线,

F(Dk,i)=Polyfit({Ladder_Ln(D1,i),Ladder_Ln(D2,i),……Ladder_Ln(Dk,i)});

步骤8.根据拟合对数阶梯函数曲线,做出校正目标曲线,

CorLine(Dk,i)=Grad(i)·Dk

步骤9.根据拟合对数阶梯函数的反函数,求取对数待校正CT数据对应的等效钢厚度值,F-1(CTDa ta_Ln(i))=InverseFun c(F(Dk,i)) ,D(i)=F-1(CTData_Ln(i));

步骤10.依据求取的厚度值,求出相应对数校正CT数据,通过对对数校正CT数据进行指数处理,获取校正CT数据,

CTCorData_Ln(i)=CorLine(D(i))=Grad(i)·D(i),

其中,i表示探测器编号,Dk为阶梯测试件的层厚度,LadderAD(Dk,i)为暗场空气校正后的阶梯CT数据,meani(AIR(i)-DARK(i))为所有探测器空气数据与暗场数据之差的平均值,CTDataAD(i)为暗场空气校正后的待校正CT数据,Ladder_Ln(Dk,i)为对数阶梯CT数据,CTData_Ln(i)为对数CT数据,Grad(i)为斜率的平均值,CorLine(Dk,i)为校正目标曲线,F(Dk,i)为对数阶梯函数,F-1(CTData_Ln(i))为对数阶梯函数的反函数,CTData_Ln(i)为对数待校正CT数据,D(i)为拟合曲线上的等效钢厚度值,CTCorData_Ln(i)为对数校正CT数据,CorLine(D)为校正目标曲线,CTCorData(i)为校正CT数据。

2.一种阶梯测试件,应用于权利要求1所述的一种CT数据校正方法,其特征在于:包括若干等效钢厚度层,其密度等于标准钢密度,每个等效钢厚度层的宽度相等高度相等,等效钢厚度层最下层厚度大于CT系统射线源穿透的最大等效钢厚度;所述等效钢厚度层的宽度大于探测器宽度,所述等效钢厚度层的高度大于探测器准直高度的3倍。

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