[发明专利]时钟系统性能分析方法及装置

说明书

本发明提供一种时钟系统性能分析方法及装置。该方法包括：获取待分析的时钟系统的互连线的寄生参数以及第一仿真网表，在第一仿真网表中的各最后一级反相器对应的参数中添加时延，形成添加时延后的第二仿真网表，时延为根据各条时钟路径上的反相器的理想时延与反相器的波动时延所得，反相器的波动时延由片上波动造成，根据第二仿真网表以及互连线的寄生参数，确定待分析的时钟系统的时钟偏差，一方面实现了在时钟系统性能分析时，考虑到了片上波动造成的波动时延，提高了对时钟系统的时钟偏差分析的准确性，另一方面，不需要再对整个时钟网络进行仿真，缩短了仿真时间，提高了对时钟系统的时钟偏差分析的效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术，尤其涉及一种时钟系统性能分析方法及装置。

背景技术

在集成电路设计领域，时钟系统是集成电路能够正常工作的关键。随着高性能集成电路规模越来越大，复杂度越来越高，对时钟系统性能(如时钟偏差)的要求也越来越高。

目前，主要通过全定制的方式，进行完备的蒙特卡洛仿真，对时钟系统的时钟偏差进行分析。

但是，上述分析方法需要的时间较长，效率较低，并且，仿真过程考虑到的因素并不全面，无法准确分析出时钟系统的时钟偏差。

发明内容

本发明提供一种时钟系统性能分析方法及装置，以解决目前在进行时钟系统的时钟偏差分析时，所需时间较长、效率较低以及无法准确分析出时钟偏差的技术问题。

第一方面，本发明提供一种时钟系统性能分析方法，包括：

获取待分析的时钟系统的互连线的寄生参数以及第一仿真网表；其中，所述时钟系统的拓扑结构是网格结构，所述时钟系统包括多条时钟路径，每条时钟路径由多级反相器级联组成，每条时钟路径的最后一级反相器连接时钟网格，所述时钟网格与负载连接，所述第一仿真网表中包括所述时钟系统中的各反相器的连接关系；

在所述第一仿真网表中的各条时钟路径的最后一级反相器对应的参数中添加时延，形成添加时延后的第二仿真网表；其中，所述时延为根据各条时钟路径上的反相器的理想时延与反相器的波动时延所得，所述反相器的波动时延由片上波动造成；

根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数，确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差。

如上所示的方法中，所述根据第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数，确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差，包括：

根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数确定所述待分析的时钟系统的时延的样本；

根据所述时延的样本确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差的统计量。

如上所示的方法中，所述在根据所述时延的样本确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差的统计量之后，所述方法还包括：

根据所述时钟偏差的统计量确定所述待分析的时钟系统的设计保守量是否合理。

如上所示的方法中，所述在所述第一仿真网表中的各条时钟路径的最后一级反相器对应的参数中添加时延，形成添加时延后的第二仿真网表之前，所述方法还包括：

通过实验的方式获取所述片上波动造成的反相器的波动时延；或者，

通过概率密度函数获取片上波动造成的各反相器的波动时延；其中，所述片上波动造成的各反相器的波动时延服从正态分布。

如上所示的方法中，所述获取待分析的时钟系统的互连线的寄生参数以及第一仿真网表，包括：

通过寄生参数提取工具获取所述互连线的寄生参数；

通过电路仿真工具获取所述第一仿真网表。

第二方面，本发明提供一种时钟系统性能分析装置，包括：