[发明专利]一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法

权利要求书

1.一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，其特征在于步骤如下：

(1)确定器件在轨寿命期内所承受的电离辐射总剂量D；

(2)根据所述电离辐射总剂量D，确定器件性能测试的剂量点以及剂量率；

(3)将器件在轨应用的偏置状态作为地面辐照试验的偏置状态，根据步骤(2)所确定剂量率对器件进行辐照试验，在所述剂量点处对器件进行测试，得到每个剂量点处的器件电性能参数值a_ij；

(4)根据步骤(3)确定的每个剂量点处的器件电性能参数值a_ij，确定器件辐照敏感参数；

(5)选取一只或两只非地面辐照试验的同批器件装机进行在轨试验；

(6)在轨实时检测器件辐照敏感参数的值以及器件所承受的电离辐射总剂量D₁；

(7)根据步骤(6)测试得到的器件辐照敏感参数的值以及所述电离辐射总剂量D₁，确定器件的抗电离辐射总剂量能力P_k。

2.根据权利要求1所述一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，其特征在于：所述步骤(1)中电离辐射总剂量D通过公式

D＝2(D_e+D_b+D_p+D_s-p)

计算得到，其中，D_e为捕获电子剂量、D_b为韧致辐射剂量、D_p为捕获质子剂量、D_s-p为太阳耀斑质子剂量。

3.根据权利要求2所述一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，其特征在于：所述捕获电子剂量D_e、韧致辐射剂量D_b、捕获质子剂量D_p、太阳耀斑质子剂量D_s-p具体通过如下方式确定：根据航天器所在的轨道、航天器设计寿命T、器件在航天器应用时的等效铝屏蔽厚度以及航天器在轨运行的太阳活动高年或低年，通过查询辐射剂量-深度关系表确定。

4.根据权利要求3所述一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，其特征在于：所述辐射剂量-深度关系表具体包括：

在600公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动高年的条件下，

在800公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动高年的条件下，

在1000公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动高年的条件下，

在1200公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动高年的条件下，

在600公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动低年的条件下，

在800公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动低年的条件下，

在1000公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动低年的条件下，

在1200公里高度太阳同步轨道、航天器设计寿命T＝3年、太阳活动低年的条件下，

在地球静止轨道、轨道倾角为0°、实心球屏蔽模型、航天器设计寿命T＝15年、东经180°的条件下，

在地球静止轨道、轨道倾角为0°、实心球屏蔽模型、航天器设计寿命T＝15年、东经100°或东经135°的条件下，

5.根据权利要求1所述一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，其特征在于：所述步骤(2)确定器件性能测试的剂量点以及剂量率，具体为：

将D/3、D/2、D、2D、3D、4D、5D、6D确定为器件性能测试的剂量点，其中剂量点小于等于D时，其剂量率选择为0.005rad(Si)/s；剂量点大于D时，剂量率选择为0.01rad(Si)/s。