[发明专利]基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台

权利要求书

1.一种基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台，其特征是：该分析平台包括有：用于局部场电位采集分析的下位机(1)、上位机(2)，所述下位机(1)包括有DBS电极阵列(3)，信号采集预处理电路(4)，通道选择模块(5)，ADC模块(6)和FPGA芯片(7)，DSP芯片(8)和USB通讯模块(9)；所述信号采集预处理电路(4)通过DBS电极阵列(3)对电极植入处电位进行采集和预处理得到去伪迹的局部场电位信号(24)，FPGA芯片(7)控制通道选择模块(5)选定读取通道，并通过数模变换器ADC模块(6)将场电位信号读取到FPGA芯片的FIFO(22)中，DSP芯片(8)对FIFO(22)中的数据读取并进行分析处理；上位机(2)通过C++编程实现人机交互界面(10)，并通过USB通讯模块(9)实现与DSP芯片(8)的数据通讯；

在所述基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台中，通过人机交互界面(10)对DBS电极通道是否进行采集进行设定，并通过USB通讯模块(9)将设定值信息发送到DSP芯片(8)，DSP芯片(8)输出控制命令控制FPGA芯片(7)进行数据采集，DSP芯片(8)读取FIFO(22)中采集到的数据，并进行数据处理分析，将处理结果通过USB通讯模块(9)传输到人机交互界面(10)中显示。

2.根据权利要求1所述的基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台，其特征是：所述的DBS电极阵列(3)包含4个DBS电极，DBS电极Ⅰ(11)、DBS电极Ⅱ(12)、DBS电极Ⅲ(13)和DBS电极Ⅳ(14)，每个DBS电极连接到信号采集预处理电路(4)。

3.根据权利要求1所述的基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台，其特征是：所述的信号采集预处理电路(4)由差分放大模块(15)，50Hz低通滤波模块(16)，0.7Hz高通滤波模块(17)和调幅模块(18)连接组成。

4.根据权利要求1所述的基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台，其特征是：所述的FPGA芯片(7)用于实现对场电位信号的实时采集；所述的DSP芯片(8)包含FIFO(22)和FPGA控制模块(23)；FPGA芯片(7)接受到来自DSP芯片(8)的控制信号(25)后，对通道选择模块发出通道选择信号(21)选定读取通道，并控制ADC模块(6)进行数据采集，将采集到的数据存储到FIFO(22)中。

5.根据权利要求1所述的基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台，其特征是：所述的DSP芯片(8)包括有DSP控制模块(25)，数字滤波算法模块(27)，功率谱分析算法模块(28)和特征提取分析算法模块(29)，DSP芯片(8)通过USB通讯模块(9)与上位机(2)实现数据传输，将采集数据及分析结果传输到上位机(2)，并接受来自上位机(2)的检测通道控制信号；DSP芯片(8)控制FPGA芯片(7)进行通道设定，并从FIFO(22)中读取数据进行分析处理。

6.根据权利要求1所述的基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台，其特征是：所述的人机交互界面(10)通过USB通讯模块(9)实现与DSP芯片(8)的数据通讯，并通过人机交互界面(10)上的操作触屏选项，将控制信号利用USB通讯模块(9)中传输到DSP芯片(8)，对系统采样通道进行控制，DSP芯片(8)将局部场电位信号波形及分析结果传输到人机交互界面(10)进行显示。