[发明专利]一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法有效
| 申请号： | 201710708210.X | 申请日： | 2017-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN107515368B | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 钭晓鸥;余琨;罗斌;牛勇;邓维维 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/30;G06F11/22 |
| 代理公司： | 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 老炼 微电路 测试程序 动态修改 电测试 量产 偏移量计算 产品测试 条件判断结果 测试 老炼试验 生成参数 失效分析 测试项 电参数 时效性 记录 保证 | ||
1.一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，其特征在于，包括下列步骤：
对微电路进行老炼前电测试，记录产品测试数据；
对该微电路按照老炼条件进行老炼试验；
提取老炼前电测试的产品测试数据，参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值；
对成品微电路进行老炼后电测试，根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交；
所述对微电路进行老炼前电测试步骤为：输入对应流程卡号，读取成品微电路上的刻号，再将测试平台的UI和数据库绑定，记录每次对应流程中的产品测试的刻号，并记录找到其生成的测试数据路径；
所述提取老炼前电测试的产品测试数据步骤为：输入对应流程卡号，测试平台的UI自动匹配对应流程，调用相应程序，读取该成品微电路的刻号，找到相应流程对应的老炼前电测试数据路径下的对应成品微电路的老炼前电测试数据，打开对应数据，提取相应参数，带入测试程序中，并参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值。
2.根据权利要求1所述的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，其特征在于，所述读取成品微电路上的刻号采用安装在机械手里OCR装置进行识别读取。
3.根据权利要求1所述的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，其特征在于，当对应测试项出现失效，生成数据并进行报警，测试平台的UI发出异常报告，并通知产品工程师在时效内抓紧进行数据失效分析。
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