[发明专利]FPGA器件的性能控制方法及装置在审
申请号: | 201710712640.9 | 申请日: | 2017-08-18 |
公开(公告)号: | CN107506279A | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 吴建元;胡景铭;韩文报 | 申请(专利权)人: | 江苏微锐超算科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F11/34;G06F1/32;G06F1/20 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 | 代理人: | 李博洋 |
地址: | 214000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | fpga 器件 性能 控制 方法 装置 | ||
1.一种FPGA器件的性能控制方法,其特征在于,包括:
获取FPGA器件的状态观测值;
根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整。
2.根据权利要求1所述的FPGA器件的性能控制方法,其特征在于,所述根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整的步骤,包括:
判断所述状态观测值是否处于预设阈值范围外;
当所述状态观测值处于所述预设阈值范围外时,根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整。
3.根据权利要求2所述的FPGA器件的性能控制方法,其特征在于,当所述状态观测值处于所述预设阈值范围外时,根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整的步骤,包括:
当所述状态观测值大于所述预设阈值范围的最大值时,计算所述状态观测值与所述预设阈值范围的最大值之间的第一差值;
判断所述第一差值是否大于或等于第一预设差值;
当所述第一差值大于或等于所述第一预设差值时,执行以下操作中的至少一者:降低所述FPGA内部各个IP核的运行频率、降低所述FPGA内部各个IP核之间或各IP核与FPGA外部的数据传输速率、提高所述FPGA内部各个IP核处理算法中的空闲占比。
4.根据权利要求2所述的FPGA器件的性能控制方法,其特征在于,当所述状态观测值处于所述预设阈值范围外时,根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整的步骤,还包括:
当所述状态观测值小于所述预设阈值范围的最小值时,计算所述预设阈值范围的最小值与所述状态观测值之间的第二差值;
判断所述第二差值是否大于或等于第二预设差值;
当所述第二差值大于或等于第二预设差值时,执行以下操作中的至少一者:提高所述FPGA内部各个IP核的运行频率、提高所述FPGA内部各个IP核之间或各IP核与FPGA外部的数据传输速率、降低所述FPGA内部各个IP核处理算法中的空闲占比。
5.根据权利要求1所述的FPGA器件的性能控制方法,其特征在于,所述FPGA器件的状态观测值包括以下至少一者:所述FPGA器件表面的温度、所述FPGA器件的核心温度、所述FPGA器件的核心电压、所述FPGA器件的输入电压、所述FPGA器件的输入电流。
6.一种FPGA器件的性能控制装置,其特征在于,包括:
状态检测模块,用于获取FPGA器件的状态观测值;
调整模块,用于根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整。
7.根据权利要求6所述的FPGA器件的性能控制装置,其特征在于,所述调整模块包括:
判断子模块,用于判断所述状态观测值是否处于预设阈值范围外;
调整子模块,用于当所述状态观测值处于所述预设阈值范围外时,根据所述状态观测值对所述FPGA器件的性能进行调整。
8.根据权利要求7所述的FPGA器件的性能控制装置,其特征在于,所述调整子模块具体用于:
当所述状态观测值大于所述预设阈值范围的最大值时,计算所述状态观测值与所述预设阈值范围的最大值之间的第一差值;
判断所述第一差值是否大于或等于第一预设值;
当所述第一差值大于或等于所述第一预设值时,执行以下操作中的至少一者:降低所述FPGA内部各个IP核的运行频率、降低所述FPGA内部各个IP核之间或各IP核与FPGA外部的数据传输速率、提高所述FPGA内部各个IP核处理算法中的空闲占比。
9.根据权利要求7所述的FPGA器件的性能控制装置,其特征在于,所述调整子模块具体用于:
当所述状态观测值小于所述预设阈值范围的最小值时,计算所述预设阈值范围的最小值与所述状态观测值之间的第二差值;
判断所述第二差值是否大于或等于第二预设差值;
当所述第二差值大于或等于第二预设差值时,执行以下操作中的至少一者:提高所述FPGA内部各个IP核的运行频率、提高所述FPGA内部各个IP核之间或各IP核与FPGA外部的数据传输速率、降低所述FPGA内部各个IP核处理算法中的空闲占比。
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