[发明专利]半导体存储装置

权利要求书

1.一种半导体存储装置，具备：

存储单元阵列；

温度传感器，

产生基于温度的第1电压，

对所述第1电压、与基于上一次的温度测定结果的第2电压进行比较，判定从上一次的温度测定算起的温度的变动是否在设定值以内，

在判定为温度变动在设定值以内的情况下，根据上一次的温度测定结果产生第1信号，

在判定为温度变动并非在设定值以内的情况下，测定温度，更新温度测定结果，且根据更新后的温度测定结果产生所述第1信号；及

电压产生电路，根据所述第1信号产生施加到所述存储单元阵列的电压；

所述温度传感器通过降低所述第1电压而产生第3电压，

对所述第1电压与所述第2电压进行比较，且

对所述第3电压与所述第2电压进行比较，由此判定从上一次的温度测定算起的温度的变动是否在设定值以内。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器在

所述第1电压大于所述第2电压、且

所述第3电压小于所述第2电压的情况下，

判定为从上一次的温度测定算起的温度的变动在设定值以内。

3.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器使用电阻元件降低所述第1电压，且产生所述第3电压。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器存储最新的所述温度测定结果，

所述温度测定结果是数字值。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器是在对所述存储单元阵列的写入动作、从所述存储单元阵列的读出动作、或所述存储单元阵列的删除动作之前，产生所述第1信号。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器包含逐次比较寄存器、及数字模拟转换电路；

所述逐次比较寄存器输出数字值的温度码；

所述数字模拟转换电路根据所述温度码，输出根据所述温度测定结果的所述第2电压。

7.根据权利要求6所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器：在判定为所述温度变动并非在所述设定值以内的情况下，更新所述逐次比较寄存器存放的所述温度码。

8.根据权利要求6所述的半导体存储装置，其中

所述温度传感器通过降低所述第1电压而产生比所述第3电压高的第4电压，

在判定为所述温度变动并非在所述设定值以内的情况下，所述逐次比较寄存器存储表示所述第2电压和所述第4电压的比较结果的第2信号作为所述温度码的所述数字值。