[发明专利]多光谱传感系统和方法在审
申请号: | 201710717377.2 | 申请日: | 2017-08-21 |
公开(公告)号: | CN108426639A | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 芯视达系统公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人: | 王毓理;王锡麟 |
地址: | 开曼群岛克*** | 国省代码: | 开曼群岛;KY |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 像素单元 多光谱传感器 像素单元阵列 传感器件 传感系统 多光谱 配置的 波长 构型 探测 | ||
1.一种多光谱传感器件,其特征在于,包括:像素单元阵列,其中的每个像素单元均包括以二乘二构型配置的四个像素;每个像素均包括若干子像素;并且
每个像素单元至少包括一个像素,该像素包括至少两个分别用于探测不同波长光的子像素。
2.根据权利要求1所述的多光谱传感器件,其特征是,所述阵列为贝尔模式阵列。
3.根据权利要求1所述的多光谱传感器件,其特征是,每个所述像素均包括四个子像素;每个所述像素单元均包括十六个子像素;并且
所述十六个子像素分别用于探测不同波长或波段的光。
4.根据权利要求1所述的多光谱传感器件,其特征是,每个所述子像素均包括:微透镜、光学滤光片和光电二极管,其中:微透镜设置于光学滤光片的上方,光电二极管设置于光学滤光片的下方,微透镜用于引导入射光穿过所述光学滤光片,光电二极管用于探测穿过所述光学滤光片的光。
5.根据权利要求4所述的多光谱传感器件,其特征是,进一步包括:与所述光学滤光片相连且用于调整所述光学滤光片的滤光范围的处理电路。
6.根据权利要求4所述的多光谱传感器件,其特征是,进一步包括:与每个所述子像素的所述光电二极管相连的处理电路,该处理电路用于采集每个像素中所有光电二极管读数的总读数;并且将该总读数作为所述像素的读数输出。
7.根据权利要求4所述的多光谱传感器件,其特征是,进一步包括:与每个所述子像素的所述光电二极管相连的处理电路,该处理电路用于从每一个像素中的所有光电二极管中采集一个光电二极管的读数,根据该读数计算出所述像素的读数并输出。
8.根据权利要求1所述的多光谱传感器件,其特征是,在每个像素中,所述四个子像素中的三个用于探测可见光,另一个子像素用于探测红外光。
9.根据权利要求8所述的多光谱传感器件,其特征是,所述三个子像素分别用于探测红光、蓝光和绿光,另一个子像素用于探测近红外光。
10.一种多光谱传感器件,其特征在于,包括:像素阵列,每个所述像素均包括若干子像素,其中至少两个子像素分别用于探测不同波长的光。
11.根据权利要求10所述的多光谱传感器件,其特征是,所述阵列为贝尔模式阵列。
12.根据权利要求11所述的多光谱传感器件,其特征是,所述若干子像素分别用于探测不同的波长或波段的光,并且任一子像素与相邻八个像素所探测的光的波长或波段各不相同。
13.根据权利要求10所述的多光谱传感器件,其特征是,每个所述子像素均包括:微透镜、光学滤光片和光电二极管,其中:微透镜设置于光学滤光片的上方,光电二极管设置于光学滤光片的下方,微透镜用于引导入射光穿过所述光学滤光片,光电二极管用于探测穿过所述光学滤光片的光。
14.根据权利要求13所述的多光谱传感器件,其特征是,进一步包括:与所述光学滤光片相连并用于调整所述光学滤光片的滤光范围的处理电路。
15.根据权利要求13所述的多光谱传感器件,其特征是,进一步包括:与每个所述子像素的光电二极管相连的处理电路,该处理电路用于采集每个像素中所有光电二极管读数的总和,并将该总和作为所述像素的读数输出。
16.根据权利要求13所述的多光谱传感器件,其特征是,进一步包括:与每个所述子像素的光电二极管相连的处理电路,该处理电路用于从每一个像素中的所有光电二极管中采集一个光电二极管的读数,根据该读数计算出所述像素的读数并输出。
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