[发明专利]一种IGBT检测电路及检测方法有效
申请号: | 201710718241.3 | 申请日: | 2017-08-21 |
公开(公告)号: | CN109425811B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 钱宇力;单耘耘 | 申请(专利权)人: | 上海新微技术研发中心有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 igbt 检测 电路 方法 | ||
本发明涉及一种IGBT检测电路及检测方法。所述IGBT检测电路,用于测试一第一被测IGBT,包括栅极驱动电源输入端口、第一栅极电阻、电流波形输出端口、负载电感、以及测试电源输入端口;所述第一栅极电阻的第一端连接所述栅极驱动电源输入端口、第二端连接所述第一被测IGBT的栅电极;所述负载电感的第一端连接所述第一被测IGBT的发射电极、第二端连接所述电流波形输出端口;所述电流波形输出端口连接所述测试电源输入端口;所述测试电源输入端口连接所述第一被测IGBT的集电极。本发明简化了IGBT检测电路的结构,能够实现对IGBT性能的全面检测,并提高检测结果的准确度。
技术领域
本发明涉及电学技术领域,尤其涉及一种IGBT检测电路及检测方法。
背景技术
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极型晶体管)是由BJT(Bipolar Junction Transistor,双极型三极管)和MOS(Metal Oxide Semiconductor,绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,兼有MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金属-氧化物半导体场效应晶体管)的高输入阻抗和GTR(Giant Transistor,电力晶体管)的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低,载流密度大,但驱动电流较大;MOSFET驱动功率很小,开关速度快,但导通压降大,载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点,驱动功率小而饱和压降低。非常适合应用于直流电压为600V及以上的变流系统如交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域。
IGBT模块是由IGBT(绝缘栅双极型晶体管芯片)与FWD(续流二极管芯片)通过特定的电路桥接封装而成的模块化半导体产品,封装后的IGBT模块直接应用于变频器、UPS(Uninterruptible Power System/Uninterruptible Power Supply)不间断电源等设备上。
IGBT模块具有节能、安装维修方便、散热稳定等特点,当前市场上销售的多为此类模块化产品,一般所说的IGBT也指IGBT模块;随着节能环保等理念的推进,此类产品在市场上将越来越多见。IGBT是能源变换与传输的核心器件,俗称电力电子装置的“CPU”,作为国家战略性新兴产业,在轨道交通、智能电网、航空航天、电动汽车、新能源装备及白色家电等领域应用极广。
IGBT主要工作在其开关状态,理想的IGBT器件,其开关时间短、导通损耗小、关断漏电小。判断IGBT器件性能优劣最直接的办法是对IGBT的动态性能进行检测。但是,现有的IGBT动态测试方法中使用的检测电路都比较为复杂,而且检测不够全面,检测结果的精准度较低。
发明内容
本发明提供一种IGBT检测电路及检测方法,用以简化IGBT动态测试的检测电路,实现对IGBT性能的全面检测,并提高检测结果的准确度。
为了解决上述问题,本发明提供了一种IGBT检测电路,用于测试一第一被测IGBT,包括栅极驱动电源输入端口、第一栅极电阻、电流波形输出端口、负载电感、以及测试电源输入端口;所述第一栅极电阻的第一端连接所述栅极驱动电源输入端口、第二端连接所述第一被测IGBT的栅电极;所述负载电感的第一端连接所述第一被测IGBT的发射电极、第二端连接所述电流波形输出端口;所述电流波形输出端口连接所述测试电源输入端口;所述测试电源输入端口连接所述第一被测IGBT的集电极。
优选的,还包括第一外接续流二极管;所述第一外接续流二极管的负极连接于所述第一被测IGBT的发射电极和所述负载电感之间、正极连接所述测试电源输入端口。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新微技术研发中心有限公司,未经上海新微技术研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710718241.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。