[发明专利]一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法有效
申请号: | 201710720522.2 | 申请日: | 2017-08-21 |
公开(公告)号: | CN107607984B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 刘会亚;康宁;周申蕾;林尊琪 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 带电 粒子 消减 口径 误差 磁谱仪 构建 方法 | ||
1.一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法,其特征在于包括如下步骤:
步骤1)设计探测器底拖的形状来限定探测介质的位置,使该探测面的面型满足双曲线型,方程式如下:
其中,是注入孔直径,x和y是以带电粒子注入孔中心为原点,以带电粒子入射方向为y轴,以垂直于磁感应平面并经过原点,且与y轴垂直的直线为x轴建立的坐标系;
步骤2)构建磁谱仪,具体如下:
将两块磁源同向固定于框体的上下两侧,使两块磁源之间形成均匀磁场;
将封板与磁源外部紧贴,并固定在框体上,构建磁通路,并屏蔽磁场;
在所述的框体的一侧面开设左右两个限位槽,两个限位槽的中间开设注入孔,并插入注入孔结构,在该框体的另一侧面设有与该注入孔同轴的准直孔;
将探测器介质分别贴合到两个探测器底拖的探测面上,将两个探测器底拖分别放入限位槽,探测面朝内。
2.根据权利要求1所述的测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法,其特征在于,所述注入孔结构的材料由导磁性好材料制成。
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