[发明专利]彩色滤光片及其检测方法、掩膜版以及液晶显示器

权利要求书

1.一种彩色滤光片检测方法，其特征在于，包括：

提供彩色滤光片，其中，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积；

对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测。

2.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，在所述提供彩色滤光片的步骤之前还包括：

提供基板；

在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片。

3.根据权利要求2所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述在所述基板上涂胶，并经过曝光和显影处理，形成彩色滤光片的步骤包括：

在所述基板上涂胶；

提供掩膜版，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形大于所述闲置掩膜区的每一像素图形；

通过所述掩膜版对所述基板进行曝光和显影处理，形成所述彩色滤光片，其中，在所述显示掩膜区形成所述彩色滤光片的显示区，在所述测试掩膜区形成所述彩色滤光片的测试区，在所述闲置掩膜区形成所述彩色滤光片的像素闲置区，在所述检测掩膜区形成所述彩色滤光片的像素检测区。

4.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度进行检测。

5.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的厚度进行检测。

6.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的色度进行检测。

7.根据权利要求1所述的彩色滤光片检测方法，其特征在于，所述对所述彩色滤光片的所述像素检测区进行检测的步骤包括：

对所述彩色滤光片的所述像素检测区的平整度、厚度以及色度进行检测。

8.一种掩膜版，其特征在于，所述掩膜版具有显示掩膜区和测试掩膜区，所述测试掩膜区包括闲置掩膜区和检测掩膜区，所述检测掩膜区与所述闲置掩膜区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述检测掩膜区中的每一像素图形的面积大于所述闲置掩膜区的每一像素图形的面积。

9.一种彩色滤光片，其特征在于，所述彩色滤光片包括显示区和测试区，所述测试区包括像素闲置区和像素检测区，所述像素检测区与所述像素闲置区分别具有相同形状的若干像素图形，且所述像素检测区中的每一像素图形的面积大于所述像素闲置区的每一像素图形的面积。

10.一种液晶显示器，其特征在于，包括权利要求9中所述的彩色滤光片。