[发明专利]一种电容感测机构的检测方法在审
| 申请号： | 201710725720.8 | 申请日： | 2017-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN107565947A | 公开（公告）日： | 2018-01-09 |
| 发明（设计）人： | 钟刚 | 申请（专利权）人： | 苏州瀚瑞微电子有限公司 |
| 主分类号： | H03K17/96 | 分类号： | H03K17/96;H03K17/975 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215163 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电容 机构 检测 方法 | ||
1.一种电容感测机构的检测方法，所述电容感测机构被按压时，所述电容感测机构的电容发生变化，所诉电容感测机构连接至控制芯片，其特征在于：
当操作者接触所述电容感测机构时，所述控制芯片至少两次检测所述电容感测机构，若所述检测值相近，则判定所述电容感测机构被触摸，执行触摸操作相应的功能；
若所述电容感测机构的检测值发生变化，则判定所述电容感测机构被按压，执行按压操作相应的功能。
2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于：设定一第一阈值，所述第一阈值与所述控制芯片的检测数据相关。
3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于：若所述电容感测机构改变量小于所述第一阈值，则判定所述电容感测机构被触摸，若所述电容感测机构的改变量大于所述第一阈值，则判定所述电容感测机构被按压。
4.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于：设定一第二阈值，所述第二阈值与数量相关。
5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于：所述控制芯片多次检测所述电容感测机构，获得多个电容感测机构与第一次检测数据比较的差值。
6.如权利要求5所述的检测方法，其特征在于：记录获得的差值中大于所述第一阈值的数量。
7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于：将上述记录的大于第一阈值的数量与所述第二阈值进行比较，若小于所述第二阈值，则判定所述电容感测机构被触摸，执行触摸操作的功能，若大于所述第二阈值，则判定所述电容感测机构被按压，执行按压操作的功能。
8.如权利要求5所述的检测方法，其特征在于：记录获得的差值中小于第一阈值的数量。
9.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于：将上述记录的小于第一阈值的数量与所述第二阈值进行比较，若大于所述第二阈值，则判定所述电容感测机构被触摸，执行触摸操作的功能，若小于所述第二阈值，则判定所述电容感测机构被按压，执行按压操作的功能。
10.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述控制芯片检测所述电容感测机构获得的检测值为电容或者电压。
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