[发明专利]一种存储器器件和中央处理单元有效
申请号: | 201710725863.9 | 申请日: | 2017-08-22 |
公开(公告)号: | CN107767900B | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | 孙钟弼 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C7/10 | 分类号: | G11C7/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储器 器件 中央 处理 单元 | ||
1.一种存储器器件,包括:
第一存储器单元阵列,其连接到第一内部数据线;
第二存储器单元阵列,其连接到第二内部数据线;以及
线路交换电路,其被配置为基于从外部接收的驱动信号将第一内部数据线和第二内部数据线与第一外部数据线和第二外部数据线相连接,
所述线路交换电路被配置为使得,
当所述驱动信号具有第一逻辑电平时,所述线路交换电路分别将第一内部数据线和第二内部数据线与第一外部数据线和第二外部数据线相连接,以及
当所述驱动信号具有与所述第一逻辑电平不同的第二逻辑电平时,所述线路交换电路将所述第一外部数据线和所述第二外部数据线交换,以使得所述第一内部数据线连接到所述第二外部数据线,并且所述第二内部数据线连接到所述第一外部数据线;
测试单元,其被配置为检测通过所述第一外部数据线和所述第二外部数据线中的至少一个输出的数据中的错误,
其中,所述测试单元被配置为使得当所述驱动信号具有所述第一逻辑电平时,所述测试单元,
执行第一测试,其包括确定通过所述第一外部数据线和所述第二外部数据线输出的数据是否包括错误,
执行第二测试,其包括确定通过交换后的第一外部数据线和第二外部数据线输出的数据是否包括错误,以及
存储所述第一测试和所述第二测试的结果,
其中,所述测试单元被配置为基于在执行所述第一测试时从所述第二外部数据线检测到的错误和在执行第二测试时从所述第一外部数据线检测到的错误来生成修复信号。
2.如权利要求1所述的存储器器件,
其中,所述线路交换电路被配置为响应于从外部提供的所述驱动信号而操作,并且当从通过所述第一外部数据线和所述第二外部数据线中的至少一个输出的数据检测到错误时,所述驱动信号从所述第一逻辑电平变化为所述第二逻辑电平。
3.如权利要求1所述的存储器器件,还包括:
修复电路;以及
用于冗余修复的存储器单元阵列,
其中,所述修复电路被配置为基于所述修复信号,使用用于冗余修复的所述存储器单元阵列来修复所述第二存储器单元阵列的错误单元。
4.如权利要求1所述的存储器器件,其中,所述测试单元被配置为当所述测试单元在执行第二测试时通过所述第一外部数据线输出的数据中未检测到错误时,确定所述第二存储器单元阵列不具有错误单元。
5.如权利要求1所述的存储器器件,
其中,所述第一内部数据线和所述第二内部数据线以及所述第一外部数据线和所述第二外部数据线中的每一个具有与突发长度相对应的线路的数量。
6.如权利要求1所述的存储器器件,其中,所述第一存储器单元阵列和所述第二存储器单元阵列被包括在相同的存储组中。
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