[发明专利]GaN衬底的表面处理方法在审
申请号: | 201710728362.6 | 申请日: | 2017-08-23 |
公开(公告)号: | CN107564799A | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 姜丽娟;王晓亮;肖红领;秦彦斌;王权;郭芬 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gan 衬底 表面 处理 方法 | ||
1.一种GaN衬底的表面处理方法,包括以下步骤:
准备一GaN衬底;
在所述GaN衬底表面进行高温热分解和再生长循环过程,每一循环包括:对GaN衬底进行高温热分解;以及进行GaN再生长。
2.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述循环过程的循环周期数1≤N≤30。
3.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述高温热分解过程包括通入流量为F1的Ga源,以保证GaN的热分解速度大于GaN的生长速度。
4.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN再生长过程包括通入流量为F2的Ga源,以保证GaN的生长速度大于GaN的热分解速度。
5.根据权利要求1或3所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述高温热分解阶段的Ga源流量F1为0≤F1<5sccm;热分解温度T1为900℃~1100℃;GaN热分解时间t1为10s≤t1≤120s。
6.根据权利要求1或4所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述再生长阶段的Ga源流量为F2>5sccm;GaN再生长时间t2为10s≤t2≤60s;GaN再生长阶段温度T2为900℃~1100℃。
7.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN衬底为GaN同质衬底或GaN基板材料。
8.根据权利要求7所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN同质衬底为GaN自支撑衬底材料或GaN同质外延材料。
9.根据权利要求7所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN基板材料包括GaN异质衬底及其上异质外延GaN后形成的复合材料;所述GaN异质衬底为蓝宝石、碳化硅、硅、金刚石、氮化铝或氧化锌。
10.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN衬底的表面处理方法采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)、分子束外延法(MBE)和气相外延法(VPE),优选地,所述GaN衬底的表面处理方法采用MOCVD方法。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造