[发明专利]GaN衬底的表面处理方法在审

专利信息
申请号: 201710728362.6 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN107564799A 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 姜丽娟;王晓亮;肖红领;秦彦斌;王权;郭芬 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: gan 衬底 表面 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种GaN衬底的表面处理方法,包括以下步骤:

准备一GaN衬底;

在所述GaN衬底表面进行高温热分解和再生长循环过程,每一循环包括:对GaN衬底进行高温热分解;以及进行GaN再生长。

2.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述循环过程的循环周期数1≤N≤30。

3.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述高温热分解过程包括通入流量为F1的Ga源,以保证GaN的热分解速度大于GaN的生长速度。

4.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN再生长过程包括通入流量为F2的Ga源,以保证GaN的生长速度大于GaN的热分解速度。

5.根据权利要求1或3所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述高温热分解阶段的Ga源流量F1为0≤F1<5sccm;热分解温度T1为900℃~1100℃;GaN热分解时间t1为10s≤t1≤120s。

6.根据权利要求1或4所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述再生长阶段的Ga源流量为F2>5sccm;GaN再生长时间t2为10s≤t2≤60s;GaN再生长阶段温度T2为900℃~1100℃。

7.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN衬底为GaN同质衬底或GaN基板材料。

8.根据权利要求7所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN同质衬底为GaN自支撑衬底材料或GaN同质外延材料。

9.根据权利要求7所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN基板材料包括GaN异质衬底及其上异质外延GaN后形成的复合材料;所述GaN异质衬底为蓝宝石、碳化硅、硅、金刚石、氮化铝或氧化锌。

10.根据权利要求1所述的GaN衬底的表面处理方法,其特征在于,所述GaN衬底的表面处理方法采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)、分子束外延法(MBE)和气相外延法(VPE),优选地,所述GaN衬底的表面处理方法采用MOCVD方法。

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