[发明专利]铁合金类样品熔制X射线荧光光谱分析用玻璃片的方法在审

专利信息
申请号: 201710729273.3 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN107271253A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 崔宏利;张向东;王占祥;王晓峰;王彬;李张华;梁玉东 申请(专利权)人: 唐山建龙特殊钢有限公司
主分类号: G01N1/38 分类号: G01N1/38;G01N1/44;G01N23/223
代理公司: 唐山顺诚专利事务所(普通合伙)13106 代理人: 杨全保
地址: 064200 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 铁合金 样品 射线 荧光 光谱分析 玻璃片 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种铁合金类样品熔制X射线荧光光谱分析用玻璃片的方法,属于冶金行业铁合金类样品化学分析技术领域。

背景技术

目前,由于铁合金类样品的特性,容易合金化铂金坩埚,熔制玻璃片困难,一直限制在X射线荧光光谱仪上的应用。杂志刊登用挂壁坩埚碱预处理法,该法操作复杂,重复性差,坩埚腐蚀机率大。还有用石墨衬底,滤纸包裹用硼酸、无水碳酸钠等混合熔剂预处理法,该方法有四个不足:(1)需要先开门碳化滤纸,炉温不好控制;(2)由于反应剧烈,容易出现样品崩溅,导致样品损失,重复性不好;(3)存在样品转移再稀释过程,容易造成样品转移不完全,测量结果不准确;(4)时间长短不好控制,时间太短,预氧化不完全,时间太长,样块容易起泡。为此试验一种新的简单、快速、稳定、安全的熔制玻璃片的方法非常必要,扩大X射线荧光光谱分析技术在合金生产领域的应用范围,减少化学法带来的环境污染,降低人工劳动强度。

发明内容

本发明目的是提供一种铁合金类样品熔制X射线荧光光谱分析用玻璃片的方法,能够快速、稳定的熔制铁合金类样品玻璃片,并通过X射线荧光光谱分析,测出铁合金类样品化学成分,解决背景技术中存在的问题。

本实用发明的技术方案是:

一种铁合金类样品熔制X射线荧光光谱分析用玻璃片的方法,包含如下工艺步骤:

(1)将石墨粉均匀覆盖在蒸发皿的内表面;

(2)将0.3±0.0002g的硝酸钾、7.7±0.0002g的四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂以及0.2±0.0002g的铁合金试样混匀后,倒入上述蒸发皿内,所述四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂的配比体积百分比为67%:33%;

(3)将盛有熔剂和铁合金试样的蒸发皿放入马弗炉中,在920℃下熔融,至熔融成玻璃态后取出,自然冷却至室温,形成饼状试样;

(4)将饼状试样上附着的石墨粉清扫干净后,放入铂金坩埚中,并按以下程序熔融:

第一:在800℃下熔融2min;

第二:在1100℃下熔融5min;

第三:在1100℃下摇摆熔融9min,所述摇摆熔融就是在熔融的同时摇摆铂金坩埚,并加入分析纯溴化锂,熔融结束;

(5)熔融结束后倒入模具内冷却成型,制成玻璃片。

所述步骤(2)中硝酸钾与四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂的累计重量为8g,铁合金试样的粒度小于150目。

所述步骤(3)中盛有熔剂和铁合金试样的蒸发皿在马弗炉中920℃下熔融时间为20min。

所述步骤(1)石墨粉的厚度不小于0.5mm,并要求表面光滑。

采用上述方法制成的玻璃片,其下表面作为分析面,上表面贴签。并通过绘制荧光曲线,测出铁合金类样品化学成分。

本发明的有益效果是:能够快速熔制铁合金类样品玻璃片,并通过X射线荧光光谱分析,测出铁合金类样品化学成分,具有较高的准确度、重复性、再现性。扩大了X射线荧光光谱分析技术在合金生产领域的应用范围,减少化学法带来的环境污染。

附图说明

图1为本发明熔剂和铁合金试样在马弗炉中熔融后示意图;

图2为本发明饼状试样示意图;

图3为本发明饼状试样放入铂金坩埚后示意图;

图4本发明玻璃片示意图。

具体实施方式

以下结合附图,通过实例对本发明作进一步说明。

一种铁合金类样品熔制X射线荧光光谱分析用玻璃片的方法,包含如下工艺步骤:

(1)将石墨粉均匀覆盖在蒸发皿的内表面;

(2)将0.3±0.0002g的硝酸钾、7.7±0.0002g的四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂以及0.2±0.0002g的铁合金试样混合均匀后,倒入上述蒸发皿内,所述四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂的配比为67%:33%;

(3)将盛有熔剂和铁合金试样的蒸发皿放入马弗炉中,在920℃下熔融,至熔融成玻璃态后取出,自然冷却至室温,形成饼状试样;

(4)将饼状试样上附着的石墨粉清扫干净后,放入铂金坩埚中,并按以下程序熔融:

第一:在800℃下熔融2min;

第二:在1100℃下熔融5min;

第三:在1100℃下摇摆熔融9min,所述摇摆熔融就是在熔融的同时摇摆铂金坩埚,并加入分析纯溴化锂,熔融结束;

(5)熔融结束后倒入模具内冷却成型,制成玻璃片。

在本实施例中,铁合金类样品熔制X射线荧光光谱分析用玻璃片的方法,具体按照以下步骤进行:

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