[发明专利]一种传感器芯片的校准方法及应用该方法的芯片校准编程器

权利要求书

1.一种传感器芯片的校准方法，其特征在于：向传感器芯片输入测试信号，传感器芯片对应实现信号输出；

在输入测试信号中选取包括零点在内的n个测量点，获取各测量点对应的输入数据[x₁,x₂,x₃,......,x_i,......,x_n]，其中i，n为自然数，1≤i≤n；

对应于各测量点，采样获取传感器芯片对应的输出数据[y₁,y₂,y₃,......,y_i,......,y_n]；

使用最小二乘法拟合获取传感器芯片的输入输出关系，进而获取零点和增益的校准值：

其中，a为零点校准值，b为增益校准值。

2.根据权利要求1所述的传感器芯片的校准方法，其特征在于：增加零点对应数据的权重以计算获取零点和增益的校准值；

其中，k₁+k₂+k₃+......+k_i+......+k_n＝n，k_i表示输入数据x_i和输出数据y_i对应的计算权重系数；

对于[x₁,x₂,x₃,......,x_i,......,x_n]中零点对应的输入数据x_m，m为自然数，1≤m≤n，获取[y₁,y₂,y₃,......,y_i,......,y_n]中零点对应的输出数据y_m；在公式4中，以及中的计算权重系数k_m大于其他各输入数据和输出数据对应的计算权重系数。

3.一种应用有如权利要求1或2所述的传感器芯片的校准方法的芯片校准编程器，与传感器芯片相连接，其特征在于：包括用于采集传感器芯片输出数据的数据采样器、用于计算获取校准数据的中央处理器、用于将校准数据烧录至传感器芯片的烧录驱动器，所述烧录驱动器具有与所述传感器芯片的烧录编程接口相连接的烧录接口；所述烧录驱动器通过所述烧录接口与所述传感器芯片相连接；所述数据采样器分别与所述传感器芯片的信号输出端、中央处理器相连接，所述烧录驱动器的数据输入端与所述中央处理器相连接。

4.根据权利要求3所述的芯片校准编程器，其特征在于：所述数据采样器为能够与多个传感器芯片的信号输出端相连接的多路ADC模数采集器；

所述烧录驱动器为能够与多个传感器芯片相连接的多路FPGA烧录驱动器。