[发明专利]一种射频搭接阻抗测量装置及其制作和测量方法

权利要求书

1.一种射频搭接阻抗测量装置，其特征在于，包括：

筒体(20)、位于所述筒体(20)上部的顶板(1)，以及位于所述筒体(20)下部的底板(3)，所述筒体(20)、顶板(1)和底板(3)之间形成内腔；所述筒体(20)进一步包括采用导电材料的壳体(2)，及采用非导电材料并与所述壳体(2)相配合的盖板(4)；

一端位于所述内腔中，另一端经所述壳体(2)穿出后与外部的测试设备(40)相连，并对称布置于所述壳体(2)相对侧部的两个测试接口(5)；

一端位于所述内腔中，另一端经所述盖板(4)穿出后与外部的被测搭接系统(50)相连的测量夹头(6)；

容置于所述内腔中的测量电路(30)，所述测量电路(30)进一步包括匹配电阻(7)和隔离电阻(8)；两个匹配电阻(7)的一端连接至所述壳体(2)，另一端分别与对称布置的两个测试接口(5)的内部导电端(51)相连；两个隔离电阻(8)的一端分别与对称布置的两个测试接口(5)的内部导电端(51)相连，另一端连接至所述测量夹头(6)的一端；

所述壳体(2)采用一侧开口的方框形结构，所述盖板(4)设置于所述壳体(2)的开口一侧；正对所述开口的壳体(2)内侧采用阶梯型凹槽结构，所述盖板(4)与所述阶梯型凹槽间形成内腔，所述测试接口(5)设置于另外两个相对的侧部；所述阶梯型凹槽结构包括沿所述壳体(2)高度方向开设的通槽一(21)，及形成于所述通槽一(21)的底部，并沿所述壳体(2)的高度方向开设，槽宽相对于所述通槽一(21)较小的通槽二(22)；

安装孔一(23)位于所述壳体(2)内部的一侧采用锥形孔(24)结构，所述安装孔一(23)与所述通槽一(21)连通，在开设所述通槽二(22)时，确保所述锥形孔(24)的尖部不被铣穿。

2.根据权利要求1所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述测试接口(5)采用N型接头。

3.根据权利要求1或2所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述测量夹头(6)采用螺杆结构。

4.根据权利要求3所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：通过调节所述隔离电阻(8)的阻值调节所述阻抗测量装置(10)的阻抗测量范围。

5.根据权利要求1、2或4所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述隔离电阻(8)的阻值为1800Ω。

6.根据权利要求5所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述匹配电阻(7)的阻值与所述测试设备(40)的内阻相对应。

7.根据权利要求6所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述匹配电阻(7)的阻值为50Ω。

8.根据权利要求1、2、4、6或7所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述壳体(2)采用黄铜材料，所述盖板(4)采用胶木材料。

9.根据权利要求8所述的射频搭接阻抗测量装置，其特征在于：所述底板(3)上开设有连接孔(14)，通过螺栓穿过所述连接孔(14)将所述底板(3)固定于参考地(13)。