[发明专利]一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的弯曲数在四个矩形槽和四个弧形槽组成的密封槽内绕圈布放，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，避免了光纤在四分之一圆弯曲以外发生弯曲而引起新的宏弯损耗对测试结果的影响，减小测试误差，同时，将待测光纤置于检测液中进行测试，进一步抑制了W波对测试结果的影响，从而保证获得的光纤宏弯损耗数值的真实性，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。

技术领域

本发明涉及光纤测试技术领域，具体涉及一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法。

背景技术

光纤由于抗干扰能力强、质量轻、体积小、耐腐蚀、电绝缘性好、安全可靠等优点，在光纤通信和光纤传感领域发展迅速。在实际使用过程中，光纤很容易发生弯曲产生宏弯损耗，对长距离的光信号传输非常不利，因此，对光纤的宏弯损耗进行测试，了解光纤的宏弯损耗性能，对光纤通信具有重要意义。现行的IEC60793-1-47（2009）测量方法和试验程序--宏弯损耗中提到的方法B—光纤四分之一圆弯曲，该方法为挑选一个四分之一转角装置，将待测光纤按照需要的圈数在转角装置上绕圈布放，光纤经过转角装置后继续沿某个圆周进行布放，之后再次回到转角装置进行下一圈布放，但上述装置和方法存在如下问题：一、待测光纤经过转角装置后继续沿某个圆周进行布放导致待测光纤在转角以外部分发生新的弯曲，形成新的宏弯损耗，引入新的误差，影响整个测试结果的准确性。二、通信光纤的宏弯损耗随波长的增加和弯曲半径的减少而增大，在弯曲半径情况下对光纤的宏弯损耗进行测试时，针对同一个测试样品、在相同测试条件下，多次测试结果会出现较大差异，引起该差异的主要原因是弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，在特定的条件下会出现干涉加强或减弱的现象，称为Whispering gallery modes（简称W波）的影响。受该现象的影响，在进行光纤的宏弯损耗测试时，将会出现波长与损耗的振荡现象，导致宏弯损耗测试结果不稳定和不准确。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是避免待测光纤在转角以外产生弯曲，抑制转角以外的弯曲产生的新的损耗以及W波对测试结果的影响，实现对光纤宏弯损耗的准确、稳定、可靠测试，目的在于提供一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，解决当前测试装置及测试方法易出现测量不准确、稳定性差的问题。

本发明通过下述技术方案实现：

一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置，包括底板以及设置在底板上用于布放光纤的首尾连通的密封槽，所述密封槽围成的区域为圆角矩形，所述密封槽包括四条矩形槽和四个弧形槽，所述弧形槽的长度为该弧形槽所在圆的周长的四分之一。

特别地，所述通信光纤宏弯损耗测试装置还包括八条光纤进出槽道，所述光纤进出通道用于将四条矩形槽分别沿横向和纵向贯穿底板。

特别地，所述密封槽内填充有检测液。

采用上述测试装置进行光纤宏弯损耗测试的方法，包括以下步骤：

A、按照测试要求的弯曲数，将待测光纤沿密封槽进行绕圈布放；

B、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。

特别地，当所述光纤宏弯损耗测试装置底板上设有光纤进出槽道时，所述步骤A具体包括：将待测光纤一端固定，另一端从光纤进出槽道进入，沿密封槽进行绕圈布放，直至经过的弧形槽数量达到测试要求的弯曲数时，再沿光纤进出槽道出来。

特别地，所述密封槽中填充有检测液，待测光纤浸入检测液中进行测试。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：