[发明专利]一种测试结果统计分析方法及装置

权利要求书

1.一种测试结果统计分析方法，其特征在于，该方法包括：

对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果，其中，所述初步统计分析结果包括案例数、测试问题解决总时长、测试工作量、测试缺陷数和测试问题数；

建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到目标统计分析结果，其中，所述目标统计分析结果包括测试率、测试问题平均解决时长、测试案例平均异常率、测试缺陷遗漏率和测试异常发现率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果之前，该方法还包括：

预设测试功能点数和测试应发现缺陷数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果，包括：

获取测试结果表单，其中，所述测试结果表单包括测试问题、项目信息、测试工作量、问题提出日期和问题解决日期；

根据所述项目信息进行统计分析，得到测试的案例数；

对每个问题的解决时长进行加和计算，得到测试问题解决总时长；

依据问题缺陷定义表单，对所述测试问题进行分析，得到测试缺陷数；

对所述测试问题进行数量统计，得到测试问题数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到目标统计分析结果，包括：

建立统计分析计算模型；

根据所述测试率＝所述测试点数/测试工作量，计算得到所述测试率；

根据所述测试问题平均时长＝测试问题总时长/测试问题数，计算得到所述测试问题平均时长；

根据所述测试缺陷数、所述测试问题数和所述测试工作量，计算得到所述测试案例平均异常率；

计算获得所述测试缺陷数与所述测试应发现缺陷数之间的差值，并计算所述差值与所述测试应发现缺陷数之间的比值，将所述比值作为所述测试缺陷遗漏率；

根据所述测试缺陷数、所述测试问题数和所述测试功能点数，计算得到所述测试异常发现率。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试缺陷数、所述测试问题数和所述测试工作量，计算得到所述测试案例平均异常率，包括：

当异常率为问题率时，根据所述测试案例平均问题率＝所述测试问题数/所述测试功能点数，计算得到所述测试案例平均异常率；

当异常率为缺陷率时，根据所述测试案例平均缺陷率＝所述测试缺陷数/所述测试功能点数，计算得到所述测试案例平均异常率。

6.一种测试结果统计分析装置，其特征在于，该装置包括：

统计分析模块，用于对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果，其中，所述初步统计分析结果包括案例数、测试问题解决总时长、测试工作量、测试缺陷数和测试问题数；

计算分析模块，用于建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到目标统计分析结果，其中，所述目标统计分析结果包括测试率、测试问题平均解决时长、测试案例平均异常率、测试缺陷遗漏率和测试异常发现率。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

预设模块，用于预设测试功能点数和测试应发现缺陷数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述统计分析模块包括：

获取子模块，用于获取测试结果表单，其中，所述测试结果表单包括测试问题、项目信息、测试工作量、问题提出日期和问题解决日期；

第一分析子模块，用于根据所述项目信息进行统计分析，得到测试的案例数；

第一计算子模块，用于对每个问题的解决时长进行加和计算，得到测试问题解决总时长；

第二分析子模块，用于依据问题缺陷定义表单，对所述测试问题进行分析，得到测试缺陷数；

第三分析子模块，用于对所述测试问题进行数量统计，得到测试问题数。