[发明专利]目标物跟踪轨迹精度测量的方法、装置、终端及系统

权利要求书

1.一种目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，包括：

确定目标物的实际跟踪轨迹位置信息；

将所述实际跟踪轨迹位置信息和预设跟踪轨迹位置信息进行对比，确定所述实际跟踪轨迹位置信息和所述预设跟踪轨迹位置信息的偏差，其中，所述预设跟踪轨迹位置信息为预设目标轨迹上的位置信息；

根据所述偏差确定目标物的跟踪精度。

2.根据权利要求1所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，所述确定目标物的实际跟踪轨迹位置信息的步骤中，具体包括：

获取目标物在实际跟踪轨迹上的图像数据，依据所述图像数据确定目标物的实际跟踪轨迹位置信息。

3.根据权利要求2所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，所述确定目标物的实际跟踪轨迹位置信息的步骤前，还包括：

建立世界坐标系、摄像装置坐标系及图像坐标系。

4.根据权利要求3所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，确定目标物的实际跟踪轨迹位置信息的步骤中，还具体包括：

确定摄像装置的位置参数；

基于所述位置参数，确定目标物在世界坐标系中的所述实际跟踪轨迹位置信息。

5.根据权利要求4所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，所述摄像装置的位置参数包括内部位置参数和外部位置参数，所述内部位置参数为摄像装置的光学参数，所述外部位置参数为世界坐标系到摄像装置坐标系的变换系数。

6.根据权利要求5所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，所述光学参数为摄像装置的焦距和摄像装置的光心位置。

7.根据权利要求4所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，所述确定摄像装置的位置参数的步骤中，具体包括：

确定目标物在图像坐标系中的位置参数，其中，所述图像为摄像装置捕捉到目标物在跟踪过程中的图像。

8.根据权利要求4所述的目标物跟踪轨迹精度测量方法，其特征在于，所述目标物实际跟踪轨迹位置信息通过如下公式得到：

uv1=kfx0u000fyv000010RT01XYZ1]]>

其中，R为摄像装置坐标系相对世界坐标系的旋转矩阵，T为摄像装置坐标系相对世界坐标系的平移矩阵，fx为沿摄像装置x轴的等效焦距，fy沿摄像装置y轴的等效焦距，uo、vo为摄像装置光轴与图像坐标系二维平面的交点，uo为交点在图像坐标系中x轴上的坐标，vo为交点在图像坐标系中y轴上的坐标，u为目标物在图像中的图像坐标系中X轴的坐标，v为目标物在图像中的图像坐标系中Y轴的坐标，Z为目标物高度，且为世界坐标系Z轴上的坐标，X目标物在世界坐标系中X轴上的坐标，Y为目标物在世界坐标系中Y轴上的坐标，k为目标物在摄像装置坐标系中的Z轴坐标值的倒数。