[发明专利]一种光栅膜参数的标定方法及系统有效
申请号: | 201710742848.5 | 申请日: | 2017-08-25 |
公开(公告)号: | CN107525655B | 公开(公告)日: | 2020-03-03 |
发明(设计)人: | 夏正国;于炀;谢春华 | 申请(专利权)人: | 上海玮舟微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光栅 参数 标定 方法 系统 | ||
本发明提供了一种光栅膜参数的标定方法及系统,光栅膜包括周期性排列的光栅,定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期,第一方向垂直于光栅的延伸方向,光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角,第一方向与第二方向交叉,标定方法包括:提供一显示面板,显示面板包括像素平面,用于形成周期性排列的像素阵列,像素阵列的周期与倾斜角为设定值;将光栅膜与显示面板对位贴合,光栅与像素阵列形成条纹;调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度,标定光栅膜的周期;和/或,调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度,标定光栅膜的倾斜角。本发明提供一种光栅膜参数的标定方法及系统,以实现对光栅膜的参数进行准确的标定。
技术领域
本发明实施例涉及立体显示技术,尤其涉及一种光栅膜参数的标定方法及系统。
背景技术
随着显示技术的不断发展,人们已经开发出了各种各样无需借助立体眼镜等辅助视距,而直接用裸眼就能够观看立体图像的自由立体显示技术,主要包括光栅膜立体显示、狭缝光栅立体显示、全息立体显示以及体三维立体显示等。
在众多的自由立体显示技术中,狭缝光栅和柱镜光栅是比较常用的用于立体显示的光栅膜,但是光栅膜在制作的过程中由于制作工艺的限制,光栅膜的周期等参数与预设值有一定的偏差,因此亟需一种能实现对光栅膜的参数进行标定的方法。
发明内容
本发明实施例提供一种光栅膜参数的标定方法及系统,以实现对光栅膜的参数进行准确的标定。
本发明实施例提供了一种光栅膜参数的标定方法,所述光栅膜包括周期性排列的光栅,定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期,第一方向垂直于光栅的延伸方向,光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角,第一方向与第二方向交叉,所述标定方法包括:
提供一显示面板,所述显示面板包括像素平面,用于形成周期性排列的像素阵列,所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值;
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合,所述光栅与所述像素阵列形成条纹;
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度,标定所述光栅膜的周期;和/或,
调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度,标定所述光栅膜的倾斜角。
可选地,所述标定方法包括:
提供一显示面板,所述显示面板包括像素平面,用于形成周期性排列的像素阵列,所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值;
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合,所述光栅与所述像素阵列形成条纹;
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度,标定所述光栅膜的周期等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的周期;和/或,
调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度,标定所述光栅膜的倾斜角等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的倾斜角。
可选地,所述的标定方法包括:
提供一显示面板,所述显示面板包括像素平面,用于形成周期性排列的像素阵列,所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值;
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合,所述光栅与所述像素阵列形成条纹;
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度,标定所述光栅膜的周期等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的周期;
标定所述光栅膜的周期后,调整所述像素阵列的倾斜角,所述条纹的宽度继续增大,当所述条纹的宽度达到第一预设值时,标记所述光栅膜的倾斜角为第一倾斜角;
继续调整所述像素阵列的倾斜角,当所述条纹的宽度再次达到所述第一预设值时,标记所述光栅膜的倾斜角为第二倾斜角;
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