[发明专利]检测市电电压和市电频率的新方法及检测电路有效

专利信息
申请号: 201710744566.9 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN107462766B 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 蔡鹏 申请(专利权)人: 上海蓝瑞电气有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25;G01R23/02
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 倪钜芳
地址: 201101 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 检测 市电 电压 频率 新方法 电路
【权利要求书】:

1.一种检测市电电压和市电频率的新方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

S1、分别将ABC三相的相电压信号同时送至各自单独的运算放大器,经过降压和抬升为0-3V的电压后,送至AD芯片电压检测口,检测市电电压;

S2、将处理后的A相相电压信号、B相相电压信号、C相相电压信号两两作为比较器的同相输入端和反向输入端;

S3、将比较器形成的方波信号送至MCU市电频率检测口,通过判断AB相线电压UAB对应方波第一次上升沿和下一次上升沿间是否依次出现BC相线电压UBC和CA相线电压UCA对应方波的上升沿,从而去控制MCU中间间隔时间来检测市电频率。

2.根据权利要求1所述的检测市电电压和市电频率的新方法,其特征在于,步骤S1中,将A相相电压经过电容滤波后,送至运算放大器LM324的两个输入端,即三相四线制时,A相接同相输入端,N相接入反向输入端;三相三线制时,A相接同相输入端,N相悬空;运算放大器LM324输入级电阻保持对称,同相输入端经电阻接1.5V抬升电压,经过运算放大器LM324后,A相相电压转换为0-3V的正弦信号;B相相电压和C相相电压的处理方法与A相相电压的一致;

将经过运算放大器LM324处理后的0-3V的三个相电压信号送至AD芯片电压检测口,检测市电电压信号。

3.根据权利要求1所述的检测市电电压和市电频率的新方法,其特征在于,步骤S2中,经过运算放大器LM324处理后的A相相电压和B相相电压分别送至电压比较器LM311的同向输入端和反相输入端,形成与AB相线电压UAB正弦波对应的方波信号;BC相线电压UBC和CA相线电压UCA正弦波对应的方波信号与AB相线电压UAB正弦波对应的方波信号产生的方式一致。

4.根据权利要求1所述的检测市电电压和市电频率的新方法,其特征在于,步骤S3中,将形成的三个方波信号送至MCU市电频率检测口,MCU开机时,检测依次出现BC相线电压UBC和CA相线电压UCA对应方波信号上升沿后的AB相线电压UAB对应方波信号,并将AB相线电压UAB对应方波信号出现的第一次上升沿设置为软件中断触发脉冲;

AB相线电压UAB对应方波信号进入第一次上升沿中断,定时器从零开始计时,判断能否满足AB相线电压UAB对应方波信号第一次上升沿和下一次上升沿之间依次出现BC相线电压UBC和CA相线电压UCA对应方波信号上升沿的条件,如果满足,定时器停止计时,此时计算的时间T为市电正弦波信号的周期,如果不满足,则继续检测AB相线电压UAB对应方波信号的下一次上升沿,直到满足条件才停止计时;

通过市电频率f=1/T,计算出市电频率。

5.一种用于如权利要求1-4任一所述的检测市电电压和市电频率的新方法的检测电路,其特征在于,其包括:

AD芯片;

用于将A相相电压经过降压和抬升为0-3V的电压的第一运算放大器LM324,其输出端接于AD芯片电压检测口;

用于将B相相电压经过降压和抬升为0-3V的电压的第二运算放大器LM324,其输出端接于AD芯片电压检测口;

用于将C相相电压经过降压和抬升为0-3V的电压的第三运算放大器LM324,其输出端接于AD芯片电压检测口;

第一电压比较器LM311,其输出端接于MCU市电频率检测口;

第二电压比较器LM311,其输出端接于MCU市电频率检测口;

第三电压比较器LM311,其输出端接于MCU市电频率检测口;

经过第一运算放大器LM324、第二运算放大器LM324、第三运算放大器LM324处理后的A相相电压信号、B相相电压信号、C相相电压信号两两作为第一电压比较器LM311、第二电压比较器LM311、第三电压比较器LM311的同相输入端和反向输入端。

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