[发明专利]基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺在审

专利信息
申请号: 201710747511.3 申请日: 2017-08-28
公开(公告)号: CN107567180A 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 何国辉;郭世勇;冯岩;吴为;姚丽萍 申请(专利权)人: 广德新三联电子有限公司;杭州新三联电子有限公司
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02;H05K3/00;H05K3/42
代理公司: 温州知远专利代理事务所(特殊普通合伙)33262 代理人: 汤时达
地址: 242000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 基于 pofv 树脂 饱满 应力 后塞孔 膨胀 控制 工艺
【权利要求书】:

1.基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,包括如下过程:

SS01钻孔;

SS02PTH;

SS03一次电镀;

SS04POFV树脂塞孔;

SS05树脂研磨;

SS06PTH;

SS07二次电镀;

SS08图形转移。

2.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS03一次电镀的镀层厚度在20-40μm。

3.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS07二次电镀的镀层厚度在20-40μm。

4.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS01钻孔通过机械钻孔的方式。

5.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS05树脂研磨通过陶瓷刷磨板机研磨。

6.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述图形转移包括网印图像转移和光化学图像转移。

7.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS04POFV树脂塞孔空口覆盖镀铜层,孔内充满POFV树脂塞,孔口凹陷深度在0-25μm的范围。

8.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS02PTH和SS06PTH中PTH英文缩写为PLATING Through Hole孔金属化。

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