[发明专利]基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺在审
申请号: | 201710747511.3 | 申请日: | 2017-08-28 |
公开(公告)号: | CN107567180A | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 何国辉;郭世勇;冯岩;吴为;姚丽萍 | 申请(专利权)人: | 广德新三联电子有限公司;杭州新三联电子有限公司 |
主分类号: | H05K1/02 | 分类号: | H05K1/02;H05K3/00;H05K3/42 |
代理公司: | 温州知远专利代理事务所(特殊普通合伙)33262 | 代理人: | 汤时达 |
地址: | 242000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 pofv 树脂 饱满 应力 后塞孔 膨胀 控制 工艺 | ||
1.基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,包括如下过程:
SS01钻孔;
SS02PTH;
SS03一次电镀;
SS04POFV树脂塞孔;
SS05树脂研磨;
SS06PTH;
SS07二次电镀;
SS08图形转移。
2.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS03一次电镀的镀层厚度在20-40μm。
3.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS07二次电镀的镀层厚度在20-40μm。
4.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS01钻孔通过机械钻孔的方式。
5.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS05树脂研磨通过陶瓷刷磨板机研磨。
6.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述图形转移包括网印图像转移和光化学图像转移。
7.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS04POFV树脂塞孔空口覆盖镀铜层,孔内充满POFV树脂塞,孔口凹陷深度在0-25μm的范围。
8.根据权利要求1所述的基于POFV树脂塞孔饱满度及热应力后塞孔树脂膨胀控制工艺,其特征在于,所述SS02PTH和SS06PTH中PTH英文缩写为PLATING Through Hole孔金属化。
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