[发明专利]MOX芯块金相检测方法在审

专利信息
申请号: 201710753185.7 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN107543819A 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 艾利君;杨廷贵;周国梁;陈诚;郭亮;任燕燕;袁毓文 申请(专利权)人: 中核四0四有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/36
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 吕岩甲
地址: 732850 *** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: mox 金相 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种MOX芯块金相检测方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤一:选用表面完整、无裂纹的MOX燃料芯块;

步骤二:向环氧树脂中加入硫化钠,根据金相分析试样数量配置镶样剂;

步骤三:将MOX燃料芯块放置在酚醛树脂镶样套的中心位置,倒入镶样剂,静置待镶样剂固化后,从镶样套中取出镶好的试样;

步骤四:将1~6个镶好的试样安装至磨抛设备卡盘中,将试样固定住,分别在由粗到细的磨抛盘上研磨,每次更换磨抛盘时将试样用H2O冲洗;

步骤五:将清洗好的试样继续安装在卡盘中,将试样固定住,在绒布上对试样抛光,同时将Al2O3磨抛液浇在磨抛盘上,磨抛结束后用H2O冲洗试样;

步骤六:根据试样数量,以HNO3和HCl配置腐蚀液,对抛光后试样进行浸蚀,停止腐蚀后用H2O冲洗试样表面,并用无水乙醇漂洗吹干;

步骤七:打开金相显微镜电源,将试样放到载物台上,调节显微镜焦距使所观察的像清晰,调节视场光栏使试样位于视场中央,打开视场光栏使其边缘像刚好消失在视场外,先进行粗调后进一步微调焦使像清晰,调节载物台上X、Y轴旋扭选择所要的图像,观察在视场内显微组织结构看是否是满足要求,如是点击拍照按钮,如果不是,则继续选取视场,直到获得符合要求的图像再拍照,拍摄结束后关闭金相显微镜,并将试样放入容器内保存。

2.根据权利要求1所述的MOX芯块金相检测方法,其特征在于:所述的步骤二中按照5~25%的体积比向环氧树脂中加入硫化钠,配置20~100ml的镶样剂,1个金相分析试样时配置20—30ml。

3.根据权利要求1所述的MOX芯块金相检测方法,其特征在于:所述的步骤三中以1~5ml/min的速度倒入5~10ml镶样剂,静置6~24h。

4.根据权利要求1所述的MOX芯块金相检测方法,其特征在于:所述的步骤四中选用5~30N的压力将试样固定住,以10~200rpm的速度分别在由粗到细的磨抛盘上研磨5~45min,每次更换磨抛盘时将试样用0.2~3L/min的H2O冲洗1~10min。

5.根据权利要求1所述的MOX芯块金相检测方法,其特征在于:所述的步骤五中选用1~5N的压力将试样固定住,以10~60rpm的速度在绒布上对试样抛光0.5~20min,同时将10~50%w.t.的Al2O3磨抛液以10~100ml/min的速度浇在磨抛盘上,磨抛结束后用0.2~3L/min H2O冲洗试样1~5min。

6.根据权利要求1所述的MOX芯块金相检测方法,其特征在于:所述的步骤六中以30%体积浓度HNO3和1%-5%体积浓度HCl配置腐蚀液20~200ml,对抛光后试样进行浸蚀,腐蚀时间为15min,停止腐蚀后用0.2~3L/min的H2O冲洗试样表面1~5min。

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