[发明专利]一种激光视觉二维位移测量系统标定方法有效

专利信息
申请号: 201710753966.6 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN107560549B 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 许景波;许进;殷宪宇 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 邓宇
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 视觉 二维 位移 测量 系统 标定 方法
【权利要求书】:

1.一种激光视觉二维位移测量系统标定方法,其特征在于:在激光二维位移标定平台中实现标定;通过获得图像角点后对摄像机的内部参数进行优化分析和误差分析,再对摄像机的外部参数标定;对纵向位移采用样条曲线拟合法;对于横向位移提出曲线拟合和空间几何关系等效变换相结合方法,可以有效标定出相机位置θ角;

所述方法具体为:

(1)打印尺寸为30mm×30mm,长宽个数为9×9黑白相间的棋盘格,作为实验标定板;使用NI的面阵CCD摄像机从不同角度获得20幅模板图像输入到Matlab经典工具箱toolbox-calib文件夹中;

(2)运行matlab2016工具箱中函数Camera Calibration,出现工具箱标定窗口,添加所拍摄的标定板图片,根据需要确定图像角点,建立图像坐标系O-XY,求出摄像机内参数矩阵A,即得到了相机的焦距和光学中心;

(3)由光学平台产生一系列纵向位移,得出相应图像特征点像素,获得纵向位移与图像特征点拟合曲线;

(4)由曲线拟合公式计算相机主点对应的纵向位移,然后由光学平台产生一次横向位移;

(5)由光学成像原理,根据几何成像关系,由横向位移变化、特征点像素横向变化、与主点纵向位移偏差和与主点纵向像素变化参数,计算出相机位置θ角;

所述对纵向位移采用样条曲线拟合法;对于横向位移提出曲线拟合和空间几何关系等效变换相结合方法,可以有效标定出相机位置θ角,具体为:

设C′点是图像中的像素主点,直线D′B′平行于图像的y轴,直线E′F′平行于图像的x轴;工作面M1位于参考面M0之上,工作面M2位于参考面M0之下,分别在△BCO和△CDO中使用正弦定理,有:

式中:α1为CCD底端过透镜中心光线与激光器光线所成角度,β1为CCD底端过透镜中心光线与透镜光轴所成角度,α2为CCD顶端过透镜中心光线与激光器光线所成角度,β2为CCD顶端过透镜中心光线与透镜光轴所成角度;

其中:

sin(π-α1)=sin(θ+β1);sinα2=sin(θ-β2);CO=l

而因CC′⊥平面MD,故利用直角△OC′D′和直角△OC′B′,分别可得出:

其中d是相机焦距,Δy1为工作面在参考面上时对应的像素上y轴方向的位移,Δy2为工作面在参考面下时对应的像素上y轴方向的位移,从而得到:

其中公式(2-2)是工作在参考面之上时的情况,公式(2-3)是工作在参考面之下的情况;ΔH1为工作面在参考面之上时,工作面与参考面之间距离;ΔH2为工作面在参考面之下时,工作面与参考面之间距离;

特征点位移相对相机在水平方向上发生位移时,对应像素点在图像x轴方向上发生移动的几何关系,其中O是相机的光学中心,因此△OEF∽△OE′F′,故有:

得到:

E′F′=Δx

所以,

根据公式(2-2)、(2-3)和(2-4)能够得知特征点位移特征点在图像上的偏移量Δx、Δy,与实际空间上的位置移动ΔH、ΔX存在着数学关系,因此,只要知道特征点位移图像中特征点的起始位置,以及每一帧图像特征点的偏移量,就可以计算出特征点水平和垂直方向实际位置的位移量,因此通过多点测量,采用三次样条插值可以拟合出面阵CCD图像像素点位置变动量Δh与实际空间上的位置移动ΔH二者之间的关系;

由像素点位置变动量Δh与实际空间上的位置移动ΔH二者之间的关系中的待定参数拟合结果得到拟合曲线;

根据水平方向上的像素与位移的关系公式:

其中,ΔY为系统的实际偏移量;

求出面阵CCD成像面与成像透镜主光轴所在直线之间的夹角θ,再利用角度测试仪与实际测量值进行对比得出误差,标定结束。

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