[发明专利]一种轴类零件粗抛光瓦检测治具及检测方法在审
申请号: | 201710761615.X | 申请日: | 2017-08-30 |
公开(公告)号: | CN107462517A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 黄锡祥 | 申请(专利权)人: | 惠州申普实业有限公司 |
主分类号: | G01N19/08 | 分类号: | G01N19/08 |
代理公司: | 惠州创联专利代理事务所(普通合伙)44382 | 代理人: | 韩淑英 |
地址: | 516221 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 零件 抛光 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及抛光领域,特别是涉及一种轴类零件粗抛光瓦检测治具及检测方法。
背景技术
抛光是指利用机械、化学或电化学的作用,使工件表面粗糙度降低,以获得光亮、平整表面的加工方法。在现有技术中,为了获得更好的抛光效果,有时候会在抛光瓦上安装有金刚砂,由于金刚砂为颗粒状且个体较小,在安装涂抹过程中,不能保证安装均匀,如果安装涂抹不均匀,会导致工件不同位置的抛光效果不一样,工件需重新抛光,增加了重新抛光的工序,成本提高且效率降低。
发明内容
基于此,有必要针对抛光效果差的问题,提供一种轴类零件粗抛光瓦检测治具及检测方法。
一种轴类零件粗抛光瓦检测治具,用于检测抛光瓦上的金刚砂分布情况,抛光瓦上设置有凹面,该凹面布有金刚砂,包括底座,所述底座上固定有两个相对设置的支架组件、两端分别安装在两个支架组件上的滚筒、设置在滚筒两侧用于固定抛光瓦的固定组件,抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面,在滚筒的一端设置有把手。
进一步的,所述支架组件包括下支架、位于下支架上方的上支架、及固定上支架和下支架的螺柱,所述滚筒的端部安装在上支架和下支架之间。
进一步的,所述固定组件上包括侧板、设置在侧板上端且开口朝上的竖直凹槽、可在竖直凹槽上上下运动的固定柱、连接固定柱和竖直凹槽底面的弹性件、设置在固定柱侧壁上的握杆和凸块,所述凸块位于竖直凹槽内,所述抛光瓦的端部放置在竖直凹槽上,凸块压顶抛光瓦的端部以固定。
进一步的,所述弹性件为弹簧。
一种轴类零件粗抛光瓦检测方法,采用上述轴类零件粗抛光瓦检测治具检测抛光瓦上的金刚砂分布情况,其特征在于,包括如下步骤:
(1)在滚筒的筒壁上涂上红丹粉,将滚筒安装于支架组件上;
(2)在抛光瓦的凹面铺设一层胶纸,将抛光瓦安装在两个固定组件上,抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面设置;
(3)转动把手,带动滚筒转动;
(4)观察附着在胶纸上的红丹粉的颜色分布是否一致,如一致,则说明抛光瓦上的金刚砂均匀分布,如不一致,则说明抛光瓦上的金刚砂分布不均匀。
上述轴类零件粗抛光瓦检测治具及检测方法,通过固定组件固定抛光瓦,两个支架组件设置有滚筒,抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面,在滚筒的一端设置有把手,转动把手,滚筒随着把手的转动旋转,滚筒表面与抛光瓦的凹面接触摩擦,滚筒上的红丹粉附着在抛光瓦凹面的胶纸上,通过观察胶纸上的红丹粉的颜色分布是否一致进而判断抛光瓦上的金刚砂的分布情况,由此可检测出抛光瓦的品质,筛选品质差的抛光瓦,从而保证抛光瓦的抛光效果,提高抛光效率,降低成本。
附图说明
图1为本发明的一种轴类零件粗抛光瓦检测治具的整体结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。
请参阅图1,在一较佳的实施例中的一种轴类零件粗抛光瓦检测治具,用于检测抛光瓦上的金刚砂分布情况,其中,抛光瓦的其中一个表面上设置有凹面,该凹面布有金刚砂。
本实施例中,上述治具包括底座1,在底座1上固定有两个相对设置的支架组件2、两端分别安装在两个支架组件1上的滚筒3、设置在滚筒3两侧用于固定抛光瓦的固定组件4。在滚筒3的一端设置有把手31,转动把手31,可带动滚筒3转动,抛光瓦的凹面贴合接触滚筒3表面,滚筒3转动,滚筒3表面与抛光瓦的凹面滚动贴合。
支架组件2包括下支架21、位于下支架21上方的上支架22、及固定上支架22和下支架21的螺柱23,滚筒3的端部安装在上支架22和下支架21之间。上支架22和下支架21配合螺柱23的拧紧,调节上支架22与下支架21之间的间距,进而可稳固滚筒3。下支架21设置有向上的开口,上支架22设置有向下的开口,通过两个开口形成可固定滚筒3的通孔。如此,稳固滚筒3。
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