[发明专利]透镜测定装置及透镜测定装置用标识板

说明书

技术领域

本公开涉及对透镜的光学特性进行测定的透镜测定装置及对透镜的光学特性进行测定的透镜测定装置用标识板。

背景技术

作为透镜测定装置，公知具备测定光学系统的检镜仪，该测定光学系统将测定光束向透镜投射，并利用拍摄元件对通过了透镜及标识板的测定光束进行拍摄，由此来测定透镜的光学特性(例如，折射率等)(例如，参照专利文献1)。而且，公知一种装置，其将测定光束向透镜投射，使通过了透镜及标识板的测定光束向屏幕投影，利用拍摄元件对投影到屏幕上的测定光束进行拍摄，由此取得透镜的光学特性及与光学特性不同的透镜信息(例如，透镜的外形信息、透镜的小球体形状信息、透镜的印刷标记信息、透镜的隐藏标记信息、附于透镜上的印点信息、开设于透镜上的孔的形状信息、开设于透镜上的孔的位置信息等)，来确定用于进行透镜的加工的吸盘的安装位置(例如，参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-241694号公报

专利文献2：日本特开2000-079545号公报

发明内容

不过，在通过透镜测定装置取得透镜的光学特性及与光学特性不同的透镜信息的情况下，在通过了透镜及标识板的测定光束中，拍摄到未通过标识板的测定光束(透镜像)和通过了用于透镜的光学特性测定而设置的标识板部分的测定光束(标识图案像)。因此，在根据透镜像而取得与光学特性不同的透镜信息时，标识图案像成为阻碍，有时难以高精度地取得与光学特性不同的透镜信息。

为了应对该情况，考虑分别设置透镜的光学特性用的光学系统和与光学特性不同的透镜信息的光学系统的结构，但是需要各种构件而存在装置复杂化的情况或装置大型化的问题。

本公开鉴于上述问题中的至少一个问题，其技术课题在于提供一种结构简易且能够高精度地取得透镜的光学特性及透镜信息的透镜测定装置。

本发明的第一方式提供一种透镜测定装置，对透镜的光学特性进行测定，包括：第一光源，向透镜照射第一波长的光束；第二光源，向透镜照射与所述第一波长不同的第二波长的光束；标识板，具有透光部和遮光部，该透光部使所述第一波长的光束和所述第二波长的光束通过，该遮光部对与所述透光部不同的区域进行遮光，遮挡所述第一波长的光束并使所述第二波长的光束透过；第一拍摄元件，拍摄经由透镜和所述标识板的所述第一波长的光束所产生的标识图案像；第二拍摄元件，拍摄经由透镜和所述标识板的所述第二波长的光束所产生的透镜像；以及取得部，基于由所述第一拍摄元件拍摄到的标识图案像来取得透镜的光学特性，基于由所述第二拍摄元件拍摄到的透镜像来取得与所述光学特性不同的透镜信息。

本发明的第二方式是，在上述第一方式的透镜测定装置中，所述第一光源兼用作所述第二光源，所述透镜测定装置具备照射控制部，该照射控制部对由所述第一光源进行的所述第一波长的光束的照射和由所述第二光源进行的所述第二波长的光束的照射进行切换。

本发明的第三方式是，在上述第一方式或第二方式的透镜测定装置中，所述透光部和所述遮光部中的至少任一方通过在所述标识板的基体构件上利用涂敷处理形成薄膜而形成。

本发明的第四方式是，在上述第一方式或第二方式的透镜测定装置中，所述透光部以格栅状的图案形成。

本发明还提供一种透镜测定装置用标识板，在对透镜的光学特性进行测定的透镜测定装置中使用，包括：透光部，使第一波长的光束和与所述第一波长不同的第二波长的光束通过；以及遮光部，对与所述透光部不同的区域进行遮光，遮挡所述第一波长的光束并使所述第二波长的光束透过，所述透光部形成为图案状。

附图说明

图1是吸盘安装装置的外观简图。

图2是透镜支承机构的概略构成图。

图3是吸盘安装机构的概略构成图。

图4是吸盘安装装置中的测定光学系统的概略构成图。

图5是表示标识板的结构的一例。

图6是表示递归性反射构件的结构的一例。

图7是吸盘安装装置中的控制系统的概略构成图。

图8是表示使用了第一光源的透镜的拍摄结果的图。

图9是说明将透镜载置在支承销上的状态下的支承销的像的图。

图10是表示使用了第二光源的透镜的拍摄结果的图。

标号说明

1 吸盘安装装置

2 显示器(监视器)

10 透镜支承机构

14 支承销

20 眼镜框架形状测定单元