[发明专利]双能量CT图像处理方法、装置以及设备

权利要求书

1.一种双能量CT图像处理方法，其特征在于，所述方法包括：

对被检组织进行双能量CT扫描，得到所述被检组织的切面成像序列，所述切面成像序列中，每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像；

针对所述切面成像序列中，每一切面的切面成像，计算所述切面成像中每一个像素点的双能量指数；

针对所述每一切面，根据所述切面的切面成像中每一个像素点的双能量指数，生成所述切面的伪彩双能量指数图；

输出所述伪彩双能量指数图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述切面成像中每一个像素点的双能量指数，包括：

依据所述切面成像中的高能量图像，计算每一个像素点在高能量下的CT值CT_H；以及依据所述切面成像中的低能量图像，计算每一个像素点在低能量下的CT值CT_L；

依据所述每一个像素点的CT_H和CT_L计算得出所述每一个像素点的双能量指数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述切面的切面成像中每一个像素点的双能量指数，生成所述切面的伪彩双能量指数图，包括：

根据所述切面的切面成像中每一个像素点的双能量指数，生成所述切面对应的灰度双能量指数图；

对所述灰度双能量指数图进行伪彩处理，得到所述切面对应的伪彩双能量指数图。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算所述切面成像中每一个像素点的双能量指数之后，还包括：

针对所述每一切面的切面成像中每一个像素点，根据所述像素点的双能量指数确定双能量指数参考范围；

根据所述双能量指数参考范围查找双能量指数值与物质之间的对应关系，获得属于所述双能量指数范围的双能量指数值对应的物质；

将所述对应的物质确定为所述像素点对应的参考物质。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输出所述伪彩双能量指数图，包括：

获取指定切面的序列号；

按照所述序列号输出所述指定切面的伪彩双能量指数图。

6.一种双能量CT图像处理装置，其特征在于，所述装置包括：

扫描单元，用于对被检组织进行双能量CT扫描，得到所述被检组织的切面成像序列，所述切面成像序列中，每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像；

计算单元，用于针对所述切面成像序列中，每一切面的切面成像，计算所述切面成像中每一个像素点的双能量指数；

生成单元，用于针对所述每一切面，根据所述切面的切面成像中每一个像素点的双能量指数，生成所述切面的伪彩双能量指数图；

输出单元，用于输出所述伪彩双能量指数图。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述计算单元包括：

第一计算子单元，用于依据所述切面成像中的高能量图像，计算每一个像素点在高能量下的CT值CT_H；以及依据所述切面成像中的低能量图像，计算每一个像素点在低能量下的CT值CT_L；

第二计算子单元，用于依据所述每一个像素点的CT_H和CT_L计算得出所述每一个像素点的双能量指数。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述生成单元包括：

生成子单元，用于根据所述切面的切面成像中每一个像素点的双能量指数，生成所述切面对应的灰度双能量指数图；

处理子单元，用于对所述灰度双能量指数图进行伪彩处理，得到所述切面对应的伪彩双能量指数图。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

范围确定单元，用于在计算所述切面成像中每一个像素点的双能量指数之后，针对所述每一切面的切面成像中每一个像素点，根据所述像素点的双能量指数确定双能量指数参考范围；

查找单元，用于根据所述双能量指数参考范围查找双能量指数值与物质之间的对应关系，获得属于所述双能量指数范围的双能量指数值对应的物质；

物质确定单元，用于将所述对应的物质确定为所述像素点对应的参考物质。