[发明专利]一种伽马辐射检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及辐射检测仪技术领域，尤其涉及一种伽马辐射检测仪。

背景技术

现有技术中，伽马辐射探测仪无法有效对伽马射线进行有效测量，使得测量精度不够高，影响后期判断的过程。

因此，现有技术中存在伽马辐射检测仪检测精度不高的技术问题。

发明内容

本发明提供了一种伽马辐射检测仪，解决了现有技术中伽马辐射检测仪检测精度不高的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：

一种伽马辐射检测仪，包括晶体系统、伽马探头以及处理系统，所述伽马探头包括顺次连接的伽马探测元件、光导体、光电二极管和电荷灵敏前置放大电路、电荷灵敏前置放大电路的输出端的电子信号输入端，所述晶体外部套有晶体封装壳，该晶体封装壳设置于所述检测仪的外壳内，且包裹所述伽马探头，在该晶体封装壳与监测仪的外壳之间的空隙设置半月形铅屏蔽体，所述处理系统包括放大器、甄别器、计数器、控制器、显示屏和电源模块，其中，所述放大器的信号输入端连接伽马探头的信号输出端，所述显示屏连接控制器，电源模块为所述放大器、甄别器、计数器、控制器、显示屏供电。

进一步地，所述晶体封装壳的厚度为5mm。

进一步地，所述半月形铅屏蔽体的厚度至多为12mm。

进一步地，所述半月形铅屏蔽体的开口角度为110度。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况：

本发明采用的伽马辐射仪，包括晶体系统、伽马探头、处理系统，其中，晶体系统位于伽马探头外侧，处理系统能够对伽马探头的结果进行处理，进而能够提高探测结果。

附图说明

图1是本发明实施例中伽马辐射检测仪的模块示意图。

具体实施方式

本发明提供了一种伽马辐射检测仪，解决了现有技术中伽马辐射检测仪检测精度不高的技术问题。

为了解决上述技术问题，下面结合说明书附图进行详细说明。

本发明实施例提供了一种伽马辐射检测仪，如图1所示，包括晶体系统10、伽马探头20以及处理系统30，伽马探头20包括顺次连接的伽马探测元件201、光导体202、光电二极管203和电荷灵敏前置放大电路204、电荷灵敏前置放大电路204的输出端连接电子信号输入端，晶体系统10包括外部套设的晶体封装壳101，该晶体封装壳101设置于检测仪的外壳内，且包裹伽马探头20，在该晶体封装壳101与检测仪的外壳之间的空隙设置半月形铅屏蔽体102，处理系统30包括放大器301、甄别器302、计数器303、控制器304、显示屏305和电源模块306，其中，放大器301的信号输入端连接伽马探头20的信号输出端，显示屏305连接控制器304，电源模块306为放大器301、甄别器302、计数器303、控制器304、显示屏305供电。

在具体的实施方式中，该晶体封装壳101的厚度为5mm。

该半月形铅屏蔽体102的厚度至多为12mm。

该半月形铅屏蔽体102的开口角度为110度。

采用上述的技术方案，能够提高检测的精度。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。