[发明专利]一种电路板及其测试点结构

说明书

本发明公开了一种电路板及其测试点结构，所述测试点结构包括：基板；测试焊盘，所述测试焊盘设置在所述基板上，所述测试焊盘包括测试接触面；测试定位件，所述测试定位件设置在所述测试焊盘上，所述测试定位件为围绕所述测试接触面设置的凸起。本发明由于所述测试定位件为围绕设置在所述测试焊盘的所述测试接触面设置的凸起，改变测试点结构的形状，测试定位件可以固定测试表笔或探针的活动范围，防止表笔或探针滑动造成的短路或元器件烧坏，使得测试阶段电路板板毁坏率降低，从而降低测试成本和测试时间。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种电路板及其测试点结构。

背景技术

现有的显示器一般都基于主动开关进行控制，具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，主要包括液晶显示器、OLED(Organic Light-Emitting Diode)显示器、QLED(Quantum Dot Light Emitting Diodes)显示器、等离子显示器等、从外观结构来看，既有平面型显示器、也有曲面型显示器。

对于液晶显示器，包括液晶面板及背光模组(Backlight Module)两大部分，液晶显示器的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，并在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。

对于OLED显示器，采用机发光二极管自发光来进行显示，具有自发光、广视角、几乎无穷高的对比度、较低耗电、极高反应速度等优点。

QLED显示器结构与OLED技术非常相似，主要区别在于QLED的发光中心由量子点(Quantum dots)物质构成。其结构是两侧电子(Electron)和空穴(Hole)在量子点层中汇聚后形成光子(Exciton)，并且通过光子的重组发光。

然而，每个新的产品量产之前，都要通过多次修改电路图及PCB的布局以保证品质，期间测试每次改版后的性能以了解其各项参数及与所设规格的差异。当用探针扎测试点的时候，常常会因为测点表面光滑，探针易滑出测点，滑到PCB上其它元器件的一端，造成元件短路或烧坏，使得PCB报废，浪费测试成本。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种避免测试时造成短路、降低测试成本的电路板的测试点结构。

为解决上述问题，本发明提供一种电路板的测试点结构。

一种电路板的测试点结构，所述测试点结构包括：

基板；

测试焊盘，所述测试焊盘设置在所述基板上，所述测试焊盘包括测试接触面；

测试定位件，所述测试定位件设置在所述测试焊盘上，所述测试定位件为围绕所述测试接触面设置的凸起。

其中，所述测试接触面设置为椭圆形，所述测试接触面采用导电材料。测试接触面设置为椭圆形，也可以设置为其中的圆形，这类形状设置方便，在测试焊盘上的占用面积一定，测试定位件围绕圆形的接触面进行凸起的设置也减少了工艺的繁琐，同时测试接触面采用导电材料便于接受测试表笔或探针的测试。

其中，所述测试接触面采用铜。铜(Cu)延展性好，导热性和导电性高。此外，铜也是耐用的金属，铜的使用寿命较长，可以多次回收。这里常采用平面型的裸铜测点，表面光滑。

其中，所述测试定位件采用绝缘材料。测试定位件采用绝缘材料可以避免测试表笔或探针与其接触而影响本该与测试接触面接触而进行的测试。

其中，所述凸起呈圆环状。圆环状的凸起设置方便，可以固定表笔或探针在测试区域，同时不用使用者借助诸如手等扶住表笔或探针来避免滑出测试区域，轻松省力。同时可以接触原有的测试接触面，不改变在测试焊盘上的占用面积，合理利用、节省空间。