[发明专利]一种组串的PID衰减的检测方法有效
| 申请号： | 201710770524.2 | 申请日： | 2017-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN107508549B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 张廷军;高峰;李艳红 | 申请（专利权）人： | 中国华电科工集团有限公司;华电中光新能源技术有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/10 | 分类号： | H02S50/10 |
| 代理公司： | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙) 11362 | 代理人： | 郭防 |
| 地址： | 100160 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 pid 衰减 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种组串的PID衰减的检测方法，该组串为太阳能电池组件串并联得到的结构，其特征在于，包括以下步骤：
S1：逆变器在一辐照条件下启动子阵级的IV扫描，并收集子阵中每一组串的开路电压和太阳能电池组件的组件温度，其中子阵包括多个组串串联的方阵；子阵的辐照强度为100W/m2以下；
S2：对于每一组串，利用组件开压温度系数和实测的组件温度校准实际测得的组串的开路电压以得到校准开路电压；其中，通过以下公式得到校准开路电压：
其中为校准开路电压，为测试所得的组串开路电压，T为实测的组件温度，α为组件开压温度系数；
S3：对于每一组串，根据二极管模型计算该辐照条件下无PID衰减的组串的理论开路电压；其中，通过以下公式得到理论开路电压：
其中n为组件理想因子，k为玻尔兹曼常数，q为电荷常数，IL为组件光生电流，I0为组件二极管饱和电流；
S4：计算每一组串的校准开路电压与理论开路电压的比值；
S5：将子阵中的每一组串的该比值均与一第一阈值比较，得到比值小于该第一阈值的组串的数量，若该数量大于一第二阈值，则该子阵存在PID衰减。
2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，实测的组件温度为在组件背面安放热电偶测试组件实时温度。
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