[发明专利]医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及加速退化试验技术领域，特别是涉及一种医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法。

背景技术

加速退化试验是用加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速退化试验方法为高可靠长寿命产品的可靠性评定提供了基础。加速退化试验的类型很多，常用的是如下三类：

(1)恒定应力加速退化试验，简称恒加试验，即先选一组加速应力水平，然后将一定数量的样品分为若干组，每组在一个应力水平下进行寿命试验，直到各组均有一定数量的样品发生失效为止。

(2)步进应力加速退化试验，简称步加试验，即是先选定一组均高于正常应力水平的加速应力水平，试验开始时把一定数量的样品放置于初始水平下进行寿命试验，经过一段时间后提高应力水平继续进行寿命试验，经过一段时间后将应力水平提高至更高的应力水平，如此继续下去，直至有一定数量的样品发生失效为止。

(3)序进应力加速退化试验，简称序加试验。它与步加试验基本相同，不同之处在于它施加的加速应力水平将随时间连续上升。

然而，上述三种加速退化试验均存在试验可靠性低的问题。

发明内容

基于此，有必要针对试验可靠性低的问题，提供一种医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法。

一种医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法，包括以下步骤：

获取待测医疗器械核心部件样品在不同测试应力作用下的寿命特征；

分别建立各个测试应力及其寿命特征的加速模型，对各个测试应力下的加速模型进行求解，得到解算加速模型，根据正常测试应力和所述解算加速模型计算待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的平均寿命；

根据待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的平均寿命建立待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的寿命分布。

上述医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法，通过分别建立各个测试应力及其寿命特征的加速模型，对各个测试应力下的加速模型进行求解，得到解算加速模型，根据正常测试应力和所述解算加速模型计算待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的平均寿命，然后根据待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的平均寿命建立待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的寿命分布，能准确获取待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的寿命分布，从而有效提高加速退化试验的可靠性。

附图说明

图1为一个实施例的医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的技术方案进行说明。

如图1所示，本发明提供一种医疗器械核心部件加速退化试验数据处理方法，可包括以下步骤：

S1，获取待测医疗器械核心部件样品在不同测试应力作用下的寿命特征；

S2，分别建立各个测试应力及其寿命特征的加速模型，对各个测试应力下的加速模型进行求解，得到解算加速模型，根据正常测试应力和所述解算加速模型计算待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的平均寿命；

S3，根据待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的平均寿命建立待测医疗器械核心部件样品在正常测试应力下的寿命分布。

在一个实施例中，待测医疗器械核心部件样品可以是一个设备(例如，手机、电脑等电子设备，或者泵、起重机等机械设备)或者设备中的某个零部件(以手机为例，可以是手机屏幕、存储卡等)。

加速寿命试验的基本思想就是利用高应力水平下的寿命特征去外推正常应力水平下的寿命特征。实现这个基本思想的关键在于建立寿命特征与应力水平之间的关系，即加速模型。在加速寿命试验中用温度作为加速应力是常见的，因为高温能使产品(如电子元器件、绝缘材料等)内部加快化学反应，促使产品提前失效。对于恒加试验，在一个实施例中，可采用以下加速模型：

ζ＝Ae^E/KT；

式中，ζ是某寿命特征，如中位寿命，平均寿命等；A是一个常数，且A＞0；E是激活能，与材料有关，单位是电子伏特(ev)；K是波尔兹曼常数，为8.617×10-5ev/℃；T是绝对温度。寿命特征将随着温度上升而按指数下降。对此模型两边取对数，可得：

lnζ＝a+b/T；

其中，a＝lnA，以及b＝E/K都是待定的参数，可以看出，寿命特征的对数是温度倒数的线性函数。

在另一个实施例中，可采用以下加速模型：

在加速寿命试验中用电应力(如电压、电流、功率等)作为加速应力时，产品的某些寿命特征与应力之间的关系符合逆幂率模型，模型表达式如下：