[发明专利]利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法

权利要求书

1.一种利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法，用于获得所述病理切片的双光梳光谱仪测定中的吸收谱，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，设置并调整双光梳相干成像分析仪器，该仪器包括光梳同步控制器(1)、主光梳一(2)、从光梳二(3)、介质反射镜(4)、1:1分束镜(5)、光电探测器(6)和频谱分析仪(7)，所述光梳同步控制器(1)分别和所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)连接，从所述主光梳一(2)发出的光被介质反射镜(4)反射，从所述从光梳二(3)发出的光被所述1:1分束镜(5)反射，经所述介质反射镜(4)和所述1:1分束镜(5)将所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)梳发出的准直光束合束，照射到所述光电探测器(6)，所述光电探测器(6)接收并将转化来的信号供所述频谱分析仪(7)分析，

步骤二，对所述病理切片进行测量，具体过程如下：

步骤2-1将处理好的所述病理切片放置于所述主光梳一(2)和所述介质反射镜(4)的光路中，所述频谱分析仪(7)记录各梳齿的透射强度，得到透射谱；

步骤2-2，移除所述病理切片后，再次记录各梳齿的发射强度，形成参考谱；

步骤2-3，所述透射谱与所述参考谱相除，获得所述病理切片的吸收谱，

其中，主光梳一(2)、从光梳二(3)重复频率分别为fr1和fr2，fr2>fr1。

2.根据权利要求1所述的利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法，其特征在于：

其中，所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)的内部具有装载于压电陶瓷片上的电控反射镜，通过调整反射镜片的位置动态调整所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)的重复频率。

3.根据权利要求1所述的利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法，其特征在于：

其在，所述同步控制器(1)为PID反馈控制模块，用于控制所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)的重复频率和载波相位。

4.根据权利要求1所述的利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法，其特征在于：

其中，所述主光梳一(2的频率覆盖范围为f0～f0+Mfr1，

所述从光梳二(3)的梳频率范围f0～f0+Mfr2，

f0为红外光的频率范围，M为整数。