[发明专利]一种LCM的ID检测治具的检测方法在审
| 申请号： | 201710774989.5 | 申请日： | 2017-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN107610626A | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 李华星;陈春荣;张君华;欧木兰;李仲儒 | 申请（专利权）人： | 深圳市国显科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市千纳专利代理有限公司44218 | 代理人： | 胡坚 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 lcm id 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种LCM的ID检测治具的检测方法,其特征在于，所述的检测方法步骤为：
1、开启ID检测治具的电源，ID检测电路开始检测产品ID状态；
2、如果产品ID脚状态正常，硬件提示电路的LED会亮灯，测试正常进行，继续测试直到程序结束；
3、如果产品ID脚状态异常，硬件提示电路的LED不亮灯，MCU检测到ID异常，启动内部锁定程序，画面显示“ID fail”且画面被锁定，测试无法继续，判定产品ID功能不良，测试结束。
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