[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 201710777408.3 申请日: 2017-09-01
公开(公告)号: CN107818982B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 萩岛大辅 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556;H01L27/11582
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 安香子
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,其特征在于,

具备层叠体和第1构造体;

上述层叠体包括第1层叠区域,该第1层叠区域包括:

第1选择栅极电极;

第2选择栅极电极,在第1方向上从上述第1选择栅极电极离开;

多个第1电极,设置在上述第1选择栅极电极与上述第2选择栅极电极之间,在上述第1方向上排列;

多个第2电极,设置在上述第2选择栅极电极与上述多个第1电极之间,在上述第1方向上排列;以及

多个第3电极,设置在上述多个第1电极与上述多个第2电极之间,在上述第1方向上排列,

上述多个第1电极的相邻的2个第1电极之间的第1间隔大于上述多个第3电极的相邻的2个第3电极之间的第3间隔,上述多个第2电极的相邻的2个第2电极之间的第2间隔大于上述第3间隔;

上述第1构造体包括:

第1半导体主体,在上述第1方向上延伸;

第1外侧膜,设置在上述第1半导体主体与上述第1层叠区域之间;

第1内侧膜,设置在上述第1半导体主体与上述第1外侧膜之间;以及

第1中间膜,设置在上述第1外侧膜与上述第1内侧膜之间。

2.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,

还具备第2构造体、第1导电层以及第2导电层;

上述层叠体还包括第3选择栅极电极,将上述第2选择栅极电极及上述第3选择栅极电极连结的方向沿着与上述第1方向交叉的第2方向;

上述第1选择栅极电极包括在上述第1方向上与上述第3选择栅极电极相离的第1选择栅极区域;

上述多个第1电极包括上述第1选择栅极区域与上述第3选择栅极电极之间的第1电极区域;

上述多个第2电极包括上述第1选择栅极区域与上述第1电极区域之间的第2电极区域;

上述多个第3电极包括上述第1电极区域与上述第2电极区域之间的第3电极区域;

上述层叠体包括第2层叠区域,该第2层叠区域包括上述第1选择栅极区域、上述第3选择栅极电极、上述第1电极区域、上述第2电极区域及上述第3电极区域;

上述第2构造体包括:

第2半导体主体,在上述第1方向上延伸;

第2外侧膜,设置在上述第2半导体主体与上述第2层叠区域之间;

第2内侧膜,设置在上述第2半导体主体与上述第2外侧膜之间;以及

第2中间膜,设置在上述第2外侧膜与上述第2内侧膜之间;

上述第1半导体主体包括第1端部和第2端部;

上述第2半导体主体包括第3端部和第4端部;

上述第1导电层与上述第1端部及上述第3端部电连接;

上述第2导电层与上述第2端部及上述第4端部电连接。

3.如权利要求2所述的半导体存储装置,其特征在于,

还包括与上述第1导电层、上述第2导电层、上述第1选择栅极电极、上述第2选择栅极电极、上述多个第1电极、上述多个第2电极及上述多个第3电极电连接的控制部;

上述控制部进行第1动作,在该第1动作中:

使上述第1导电层成为第1电位;

使上述第2导电层成为第2电位;

使上述多个第3电极中的1个成为比上述第1电位高、且比上述第2电位高的第3电位;

使上述多个第1电极成为上述第1电位与上述第3电位之间的第4电位;

使上述多个第2电极成为上述第2电位与上述第3电位之间的第5电位;

使上述多个第3电极中的除了上述1个以外的其他的上述多个第3电极中的至少1个成为第6电位,上述第6电位在上述第4电位与上述第3电位之间、且在上述第5电位与上述第3电位之间;

使上述第2选择栅极电极成为比上述第4电位低、且比上述第5电位低的第7电位;

使上述第1选择栅极电极成为比上述第7电位低的第8电位;

使上述第3选择栅极电极成为比上述第7电位低的第9电位。

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