[发明专利]一种芯片烧录测试机在审
| 申请号： | 201710785627.6 | 申请日： | 2017-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN107505562A | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 冯科;肖玮;欧玉发;秦建伟;梅得军;李晓华 | 申请（专利权）人： | 上达电子(深圳)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人： | 唐致明 |
| 地址： | 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 | ||
1.一种芯片烧录测试机，其特征在于，包含：上料装置、烧录装置和封装装置，所述上料装置与所述烧录装置匹配，所述上料装置为所述烧录装置提供连续的物料，所述烧录装置包括多工位转盘，所述封装装置与所述多工位转盘匹配，所述封装装置用于封装物料。
2.根据权利要求1所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述上料装置包括上料机械手和送料器，所述上料机械手可在所述送料器和所述多工位转盘之间移动。
3.根据权利要求1所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述烧录装置包括压机、多工位转盘和烧录端子，所述烧录端子与所述多工位转盘固定连接，嵌在多工位转盘内，所述压机与所述多工位转盘和烧录端子匹配。
4.根据权利要求3所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述烧录端子内设置有顶针，所述顶针与芯片触点匹配。
5.根据权利要求4所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述烧录端子可相对于所述顶针运动。
6.根据权利要求5所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述顶针一端设置有顶针平台，所述顶针平台与烧录机电性连接。
7.根据权利要求6所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述顶针平台的周边还设置有限位柱，所述限位柱高度高于所述顶针平台。
8.根据权利要求3所述的芯片烧录测试机，其特征在于:所述多工位转盘呈圆饼状，所述多工位转盘上设置有多处烧录端子。
9.根据权利要求8所述的芯片烧录测试机，其特征在于：所述多工位转盘可进行转动。
10.根据权利要求1所述的芯片烧录测试机，其特征在于：还包括排料装置，所述排料装置位于所述封装装置前部。
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