[发明专利]检测混凝土腐蚀产物的高光谱测试与分析方法有效
申请号: | 201710788317.X | 申请日: | 2017-09-04 |
公开(公告)号: | CN107576619B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 徐国强;汪金花;曹兰杰;张薇;王硕;李孟倩;彭涛;吴兵 | 申请(专利权)人: | 华北理工大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 唐山永和专利商标事务所 13103 | 代理人: | 张云和 |
地址: | 063210 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 混凝土 腐蚀 产物 光谱 测试 分析 方法 | ||
1.一种检测混凝土腐蚀产物的高光谱测试与分析方法,按以下步骤进行:
步骤1:建立混凝土原材料、水化产物、腐蚀产物的光谱库;混凝土原材料包括水泥、砂子、石子、水、减水剂、矿物掺合料,水化产物是混凝土非腐蚀条件下水化产物,腐蚀产物是石膏和钙矾石混合物;
步骤2:根据无腐蚀环境下的混凝土和腐蚀环境下的混凝土性质,确定光谱采集的技术参数;
步骤3:不同环境下的检测目标光谱数据采集;检测目标是无腐蚀环境下的混凝土A、腐蚀环境下的混凝土B;
步骤4:实测光谱曲线预处理和特征参量提取;光谱曲线是无腐蚀环境下的混凝土A的光谱曲线和腐蚀环境下的混凝土B的光谱曲线;
步骤5:光谱曲线比值与求导处理,检测对象腐蚀性产物生成过程分析;包括以下步骤:
(1)无腐蚀环境下的混凝土A和腐蚀环境下的混凝土B同一监测时间i的光谱曲线比值处理:光谱曲线i=1,2,3,……,N;SKi为无腐蚀环境下的混凝土A去除包络线处理后的曲线,SLi为腐蚀环境下的混凝土B去除包络线处理后的曲线;
(2)将光谱曲线与步骤1建立的腐蚀产物光谱库进行匹配,进行拟合分析;
(3)对光谱曲线进行求导,检测对象腐蚀性产物生成定量分析。
2.根据权利要求1所述的检测混凝土腐蚀产物的高光谱测试与分析方法,其特征在于,所述步骤1中包括以下步骤:
(1)采集混凝土相关的光谱曲线:利用光谱仪采集混凝土原材料包括水泥、砂子、石子、水、减水剂、矿物掺合料的光谱曲线;采集混凝土非腐蚀条件下水化产物的光谱曲线;采集混凝土腐蚀条件下的腐蚀产物石膏和钙矾石混合物的光谱曲线;
(2)对混凝土原材料、水化产物、腐蚀产物的光谱曲线进行包络线去除和归一化处理,提取原材料实测光谱曲线的特征参量,特征参量包括吸收位置P、吸收深度H、吸收宽度W、吸收对称度B、吸收面积S。
3.根据权利要求1所述的检测混凝土腐蚀产物的高光谱测试与分析方法,其特征在于,所述步骤2中包括以下步骤:
(1)选取无腐蚀环境下的混凝土A和腐蚀环境下的混凝土B作为检测对象;
(2)设计监测总时间长S和光谱采集周期T,光谱测量总次数N=S/T;
(3)确定单次光谱采集过程中光谱采集试样干湿程度、监测点个数与位置、采集最小距离、观测次数参数。
4.根据权利要求1所述的检测混凝土腐蚀产物的高光谱测试与分析方法,其特征在于,所述步骤3中包括以下步骤:
(1)对无腐蚀环境下的混凝土A、腐蚀环境下的混凝土B进行不间断N次光谱测量;
(2)混凝土A第i次光谱采集为若干点光谱测量的平均值,即Ki,i=1,2,3,……,N;
(3)混凝土B第i次光谱采集为若干点光谱测量的平均值,即Li,i=1,2,3,……,N。
5.根据权利要求1所述的检测混凝土腐蚀产物的高光谱测试与分析方法,其特征在于,所述步骤4中包括以下步骤:
(1)对实测光谱曲线小波去噪平滑,去除包络线;
(2)无腐蚀环境下的混凝土A去除包络线处理后的曲线为SKi,腐蚀环境下的混凝土B去除包络线处理后的曲线为SLi;
(3)提取波谱曲线的吸收特征参量,特征参量包括吸收位置P、吸收深度H、吸收宽度W、吸收对称度B、吸收面积S,确定检测对象的光谱吸收特征区间。
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