[发明专利]安全器件状态设备和方法

权利要求书

1.一种保护具有多个器件状态熔丝的半导体芯片器件的方法，所述方法包括：

将存储在所述器件状态熔丝中的原始器件比特模式改变为测试模式启用比特模式，用于将器件状态从原始器件状态改变为测试模式启用器件状态，其中所述测试模式启用器件状态允许对所述半导体芯片器件执行制造测试；

响应于所述半导体芯片器件通过制造测试，将所述测试模式启用比特模式改变为测试模式锁定比特模式，用于将所述器件状态从所述测试模式启用器件状态改变为测试模式锁定器件状态；

响应于所述器件状态熔丝被改变为与和已知器件状态相对应的已知比特模式不匹配的比特模式，将所述器件状态熔丝的当前比特模式更改为测试模式禁用比特模式，用于将当前器件状态改变为测试模式禁用器件状态；以及

至少部分地基于所述器件状态的所述改变来修改所述半导体芯片器件的安全级别，对应于所述测试模式禁用器件状态的安全级别使得所述半导体芯片器件中的端口和存储器永久地被禁用或不可访问。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，与所述原始器件状态相对应的安全级别使得测试模式和所述端口不可从外部访问。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，与所述测试模式锁定器件状态相对应的安全级别不允许对所述半导体芯片器件执行制造测试。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，与所述测试模式锁定器件状态相对应的安全级别允许所述半导体芯片器件转换回到所述测试模式启用器件状态。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

响应于所述半导体芯片器件没有通过所述制造测试，将所述测试模式启用比特模式改变为所述测试模式禁用比特模式，用于将所述器件状态从所述测试模式启用器件状态改变为所述测试模式禁用器件状态。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述半导体芯片器件进一步包括引导加载器；以及

其中，响应于所述引导加载器验证了所述半导体芯片器件连同解锁请求接收到了正确的解锁密码，所述原始器件比特模式改变为所述测试模式启用比特模式。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，与所述测试模式启用器件状态相对应的安全级别允许经由所述端口中的一个或多个端口进行对所述半导体芯片器件的制造测试。

8.一种半导体芯片器件，包括：

多个器件状态熔丝，所述多个器件状态熔丝存储指示所述半导体芯片器件的器件状态的比特模式；

端口和存储器；

处理器，所述处理器可操作地连接至所述器件状态熔丝；以及

存储装置，所述存储装置存储有指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器：

将存储在所述器件状态熔丝中的原始器件比特模式改变为测试模式启用比特模式，用于将器件状态从原始器件状态改变为测试模式启用器件状态，其中所述测试模式启用器件状态允许对所述半导体芯片器件执行制造测试；

响应于所述半导体芯片器件通过制造测试，将所述测试模式启用比特模式改变为测试模式锁定比特模式，用于将所述器件状态从所述测试模式启用器件状态改变为测试模式锁定器件状态；

响应于所述器件状态熔丝被改变为与和已知器件状态相对应的已知比特模式不匹配的比特模式，将所述器件状态熔丝的当前比特模式更改为测试模式禁用比特模式，用于将当前器件状态改变为测试模式禁用器件状态；以及

基于所述器件状态的所述改变来修改所述半导体芯片器件的安全级别，对应于所述测试模式禁用器件状态的安全级别使得所述半导体芯片器件中的端口和存储器永久地被禁用或不可访问。

9.根据权利要求8所述的半导体芯片器件，其中，与所述原始器件状态相对应的安全级别使得测试模式和所述端口不可从外部访问。

10.根据权利要求8所述的半导体芯片器件，其中，与所述测试模式锁定器件状态相对应的安全级别不允许对所述半导体芯片器件执行制造测试。