[发明专利]一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法

说明书

本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法，首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓，然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。本发明的有益效果是：解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题，同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息，解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。

技术领域

本发明涉及显示屏检测方法，尤其涉及一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极体面板(AMOLED)被视为下一代显示技术，具有反应速度快、对比度高、视角广、能耗低等特点。由于AMOLED显示屏在制造的过程中存在着各种各样的缺陷，如点缺陷、线缺陷、Mura缺陷(Mura名称来源于日文单词，特指面板瑕疵，用来表征当显示器以恒定亮度显示时，显示区域的不均匀)的存在，将对AMOLED显示屏的发光均匀性、图像清晰性、寿命等产生影响。

Mura缺陷是一种严重影响AMOLED显示屏画面品质的不良缺陷，主要表现为屏幕区域内亮度显示不均匀。Mura缺陷种类众多、形状多样，并且对比度低、位置不固定、边缘轮廓不清晰，相比于显示屏的其他光学类缺陷，Mura缺陷较难检测。传统的人眼检测方法主要依靠检测者的经验和主观感受来检测Mura缺陷及评定其等级，这就导致了不同的检测者对同一Mura缺陷的判定结果可能不一致。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法。

本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法，首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓，然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。

作为本发明的进一步改进，所述均值漂移算法包括先计算当前点的偏移均值，然后移动该点到偏移均值，再以此为新的起始点，继续移动，直到满足一定的条件结束。

作为本发明的进一步改进，均值漂移算法计算一个像素点的迭代步骤为：(1)随机选择一个初始点x；(2)计算其均值漂移量m_h(x)；(3)令误差为ε'，如果||m_h(x)-x||≤ε′，停止漂移迭代；否则，将m_h(x)赋值给x，然后重复步骤(2)、(3)。

作为本发明的进一步改进，对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓。

作为本发明的进一步改进，所述水平集算法的迭代步骤为：(1)由均值漂移算法得到初始水平集函数φ，设置参数大小；(2)求解函数c₁，c₂，e₁，e₂；(3)根据主动轮廓模型演化水平集函数；(4)判断水平集函数是否收敛，若收敛则迭代结束，否则重复步骤(2)、(3)、(4)。

本发明的有益效果是：采用均值漂移算法解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题，同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息，解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。

附图说明

图1为本发明一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法的流程示意图。

图2为AMOLED显示屏左侧Mura缺陷检测合成图，合成图中从左到右分别为Mura缺陷原始图像、均值漂移算法预分割图像、由均值漂移算法预分割结果得到的初始轮廓图像，以及由水平集算法得到的最终分割效果图。

图3为AMOLED显示屏右侧Mura缺陷检测合成图，合成图中从左到右分别为Mura缺陷原始图像、均值漂移算法预分割图像、由均值漂移算法预分割结果得到的初始轮廓图像，以及由水平集算法得到的最终分割效果图。