[发明专利]一种TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法

权利要求书

1.一种TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其特征在于，包括以下过程：

S1：低温黑体下TDI模式图像采集；

S2：低温黑体下BYPASS模式下图像采集；

S3：高温黑体下TDI模式图像采集；

S4：高温黑体下BYPASS模式图像采集；

S5：盲元检测；

S6：盲元替换；

所述S5中，盲元检测包括死像元检测、噪声像元检测和闪变像元检测；

所述死像元检测采用双参考源响应率检测法；

所述死像元检测的过程为：

采用面源黑体测试，在低温黑体T₁和高温黑体T₂时，分别建立时间-空间数据集；先在时间方向上求灰度平均，即F帧平均得到每个像元在低温黑体T₁和高温黑体T₂的响应均值分别为DN₁(i)和DN₂(i)，再在空间上对所有像元求平均得到像元平均灰度值和F为TDI红外探测器组件所采集图像的帧数；

像元响应灰度按式(1)计算：

ΔDN(i)＝DN₁(i)-DN₂(i) (1)

平均响应灰度按式(2)计算：

每个谱段探测器中符合下列不等式的像元通道记为死像元；

所述噪声像元检测采用噪声电压检测法；

所述噪声像元检测的过程为：

选择T₁温度点，建立时间-空间数据集；对于噪声像元算法是比较像元噪声与平均噪声的一定倍数来检测；

单像元噪声按式(4)计算：

F表示采集的帧数；DN_(i)(f)表示像元i第f帧响应灰度，为第f帧的平均灰度；

平均噪声按式(5)计算：

n为像元总数；

每个谱段探测器中符合下列不等式的像元通道记为噪声像元；

2.如权利要求1所述的TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其特征在于，所述闪变像元检测采用噪声及噪声等效温差检测法。

3.如权利要求2所述的TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其特征在于，所述闪变像元检测的过程为：

按照式(1)～(6)方法计算出像元响应灰度和单像元噪声，分别计算出探测器每个像元通道的噪声等效温差NETD(i)及每个谱段探测器像元通道平均噪声等效温差

像元噪声等效温差按式(7)计算：

T₁和T₂分别为式(1)中所选的低温度点和高温度点；

平均噪声等效温差按式(8)计算：

每个谱段探测器中符合下列不等式的像元通道记为闪变像元；

4.如权利要求3所述的TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其特征在于，所述S6中，死像元在TDI模式下采用周围像元中值滤波的方法替代；闪变及噪声像元采用TDI探测器盲元替换模式进行像元级替换。