[发明专利]一种图像校正的方法、系统和可读介质

说明书

本发明公开了一种图像重建的方法、系统和可读介质。所述系统可以包括：存储介质和处理器。所述存储介质可以包括用于图像重建的指令。所述处理器被配置为与所述存储介质通讯。当执行所述指令时，所述处理器可以用于：对空气进行第一扫描；获得所述第一扫描对应的第一数据和第一电参数值；对模体进行第二扫描；获得所述第二扫描对应的第二数据和第二电参数值；基于所述第一电参数值、所述第二电参数值和所述第一数据对所述第二数据进行校正得到第三数据；以及基于所述第三数据获得重建图像。本发明的空气校正方法不依赖于任何参考探测器，使用扫描协议的电流大小来完成空气校正，保证了空气校正的有效性，提高了空气校正的便捷性。

技术领域

本发明涉及图像处理系统，尤其涉及图像校正的方法。

背景技术

计算机断层成像扫描(CT)设备在进行图像重建之前需要进行一系列校正步骤。该校正步骤一般依赖于CT设备。对于校正不可缺少的一部分——空气校正而言，其一般依赖于参考探测器。在实际情况中，参考探测器有可能不存在或者参考探测器被遮挡，从而影响空气校正效果。

发明内容

针对上述参考探测器不存在或参考探测器被遮挡的情况，本发明的目的在于保证空气校正的有效性和提高空气校正的便捷性，使空气校正的结果不依赖于参考探测器。

为达到上述发明目的，本发明提供的技术方案如下：

一种图像重建的方法，所述方法可以包括：对空气进行第一扫描；获得所述第一扫描对应的第一数据和电参数值；对模体进行第二扫描；获得所述第二扫描对应的第二数据和第二电参数值；基于所述第一电参数值、所述第二电参数值和所述第一数据对所述第二数据进行校正得到第三数据；以及基于所述第三数据获得重建图像。

在本发明中，所述第一电参数值可以包括第一电流值。

在本发明中，所述第二电参数值可以包括第二电流值。

在本发明中，所述第一电参数值可以对应于第一扫描角度。

在本发明中，所述第二电参数值可以对应于第二扫描角度。

在本发明中，所述基于所述第一电参数值、所述第二电参数值、所述第一数据对所述第二数据进行校正得到所述第三数据可以包括：确定所述第一扫描角度与所述第二扫描角度相等；确定所述第一电参数值与所述第二电参数值的关系；以及基于所述关系和所述第一数据对所述第二数据进行校正得到第三数据。

在本发明中，所述第三数据由下述公式确定：

其中，j代表所述扫描角度，Projectionvalue_j是所述扫描角度j对应的所述第三数据，(RawDataIntensity_sec)_j是所述扫描角度j对应的所述第二数据，(RawDataIntensity_fir)_j是所述扫描角度j对应的所述第一数据，(I_fir)_j是所述第一扫描时所述扫描角度j对应的第一电参数值，(I_sec)_j是所述第二扫描时所述扫描角度j对应的第二电参数值，c是预先确定的常数。

在本发明中，所述基于所述第三数据获得所述重建图像可以包括：对所述第三数据进行重排并进行卷积处理得到卷积数据；以及对所述卷积数据进行反投影获得CT重建图像。

一个用于图像重建的系统。所述系统可以包括：存储介质和处理器。所述存储介质可以包括用于图像分割的指令。所述处理器可以被配置为与所述存储介质通讯。当执行所述指令时，所述处理器可以用于：对空气进行第一扫描；获得所述第一扫描对应的第一数据和第一电参数值；对模体进行第二扫描；获得所述第二扫描对应的第二数据和第二电参数值；基于所述第一电参数值、所述第二电参数值和所述第一数据对所述第二数据进行校正得到第三数据；以及基于所述第三数据获得重建图像。