[发明专利]一种多孔透光部件

说明书

技术领域

本发明涉及顺序式波长色散X荧光光谱检测领域，尤其涉及顺序式波长色散X荧光光谱仪中采用多准直器设备的透光部件。

背景技术

顺序式波长色散X荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。

原有的顺序式波长色散X荧光光谱仪都是使用单个准直器进行物质分析，在进行不同物质分析的过程中，需要多次调整和替换，甚至可能需要换不同型号的准直器，为了操作便捷，产生了使用多个准直器的顺序式波长色散X荧光光谱仪，但在使用过程中，无论顺序式波长色散X荧光光谱应用到哪种应用领域，都会遇到采用一般正常的通光形状的通孔会出现漏光等现象，造成物质测量的失真或不准确，因此需要对通孔形状进行处理，寻找一种能够满足使用需求的方案。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述技术问题而提供一种多孔透光部件，可以根据通孔的形状对通光效果不同的影响，设计的一种特殊形状的透光部件，使得光线正常射出的同时，通过通孔过滤掉杂光，避免漏光现象的发生，由此可以在不削弱光源大小的情况下，有效遮光，由此，本发明提供了一种多孔透光部件，其特征在于，所述透光部件为薄壁铜结构件且具有贯通薄壁的n个大通孔，所述大通孔外形曲线为将圆锥斜剖面形成的椭圆左右焦点距离缩短至左右焦点原有距离的2/3~1/3形成的封闭曲线，所述透光部件边缘处具有m个小通孔；光源由光管发射出，射击到样品杯上，激发样品元素射出光线，光线经过采用特殊设计的透光部件去除了多余的杂光形成准直光束，准直光束通过准直器作用形成平行光射入晶体后通过探测器形成光波分析，利用波长对应出物质元素，完成物质元素分析。此特殊设计的透光部件能够降低杂光的影响，最大限度保留通光量，在顺序式波长色散X荧光光谱仪中进一步起到降噪，提高顺序式波长色散X荧光光谱分析的灵敏度和精度的作用。

根据背景技术中对现有技术所述，原有的顺序式波长色散X荧光光谱仪都是使用单个准直器进行物质分析，在进行不同物质分析的过程中，需要多次调整和替换，甚至可能需要换不同型号的准直器，为了操作便捷，产生了使用多个准直器的顺序式波长色散X荧光光谱仪，但在使用过程中，无论顺序式波长色散X荧光光谱应用到哪种应用领域，都会遇到采用一般正常的通光形状的通孔会出现遮光效果差、漏光等现象，造成物质测量的失真或不准确，因此需要对通孔形状进行处理，寻找一种能够满足使用需求的方案；而本发明公开的一种多孔透光部件，可以根据通孔的形状对通光效果不同的影响，设计的一种特殊形状的透光部件，使得光线正常射出的同时，通过通孔过滤掉杂光，避免漏光现象的发生，由此可以在不削弱光源大小的情况下，有效遮光，由此，本发明提供了一种多孔透光部件，其特征在于，所述透光部件为薄壁铜结构件且具有贯通薄壁的n个大通孔，所述大通孔外形曲线为将圆锥斜剖面形成的椭圆左右焦点距离缩短至左右焦点原有距离的2/3~1/3形成的封闭曲线，所述透光部件边缘处具有m个小通孔。另外，根据本发明公开的一种多孔透光部件还具有如下附加技术特征：

进一步地，所述透光部件位下部开口的锥台结构，顶面为薄壁铜结构件，n个所述椭圆形大通孔位于以所述顶面圆心为圆心的同一圆周上，所述锥台结构边缘具有所述小通孔。

进一步地，n个所述椭圆形大通孔均布在所述圆周上。

进一步地，所述透光部件在所述锥台结构下部具有法兰边缘，所述小通孔位于所述法兰边缘上。

进一步地，所述贯通薄壁的n个大通孔的大小和样品杯的大小相适应。

附图说明

附图1为本发明的现有技术结构示意图；

图中，1为大通孔，2为小通孔。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语 “上”、“下”、“边缘”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。