[发明专利]一种基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法

权利要求书

1.基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，包括以下步骤：

(1)、制备具有初始残余应力的试样；

(2)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理前的X射线衍射图谱；

(3)、对试样进行振动时效处理；

(4)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理后的X射线衍射图谱；

(5)、分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度。

2.如权利要求1所述的基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，其特征在于：步骤(5)中，分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度包括以下步骤：

(5.1)、用Jade软件，对X射线衍射图谱进行物相分析，得到试样的物相，确定试样的伯格斯矢量的数值；

(5.2)、扣除X射线衍射图谱的背底，采用Vogit函数法对峰形进行拟合，得到不同衍射面的衍射峰的位置和半高宽，根据方程计算出变量K和ΔK；

(5.3)、采用Origin软件绘出试样振动时效处理前后的K-ΔK图；

(5.4)、采用Origin软件的曲线拟合功能对变量K-ΔK进行拟合，得到试样振动时效处理前后的应变ε；

(5.5)、将试样振动时效处理前后的应变以及试样的伯格斯矢量的数值代入方程求解出试样振动时效处理前后的位错密度。

3.如权利要求1所述的基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，其特征在于：所述的X射线衍射仪为X'pert PRO型多晶X射线衍射仪。