[发明专利]基于啁啾强度调制的光矢量分析方法及装置

权利要求书

1.基于啁啾强度调制的光矢量分析方法，其特征在于，通过以下方法生成啁啾强度调制光双边带信号：将频率为ω_c的光载波分为两路，把频率为ω_e的微波信号相位调制于其中一路光载波，生成双边带相位调制信号，然后将生成的双边带相位调制信号与另一路光载波相干叠加，即得啁啾强度调制光双边带信号；以所述啁啾强度调制光双边带信号作为第一探测光通过待测光器件，并将通过待测光器件后的第一探测光转换为第一电信号；改变所述双边带相位调制信号与另一路光载波之间的相位差，将所得啁啾强度调制光双边带信号作为第二探测光通过待测光器件，并将通过待测光器件后的第二探测光转换为第二电信号；提取第一电信号、第二电信号的幅相信息；建立以第一电信号、第二电信号的幅相信息及不经过待测光器件而直接对第一探测光、第二探测光直接进行光电转换所得到的电信号的幅相信息作为已知量，以待测光器件在ω_c±ω_e两个频率处的幅相响应作为未知量的方程组，通过对该方程组求解得到待测光器件在ω_c±ω_e两个频率处的幅相响应。

2.如权利要求1所述方法，其特征在于，通过施加不同的偏置电压来改变所述双边带相位调制信号与另一路光载波之间的相位差。

3.如权利要求1所述方法，其特征在于，待测光器件在ω_c±ω_e两个频率处的幅相响应H_DUT(ω_c+ω_e)、H_DUT(ω_c-ω_e)具体如下：

其中，i₁(ω_e)、i₂(ω_e)分别为第一电信号、第二电信号的幅相信息；i₁^SYS(ω_e)、i₂^SYS(ω_e)分别为不经过待测光器件而直接对第一探测光、第二探测光直接进行光电转换所得到的电信号的幅相信息；H_DUT(ω_c)是待测光器件在光载波处的幅相响应，是一个可测得的常数；A₀、A₁分别为所述双边带相位调制信号中光载波与边带的幅度，A₀'为另一路光载波的幅度，θ₁、θ₂分别为生成第一探测光、第二探测光时所述双边带相位调制信号与另一路光载波之间的相位差，η为进行光电转换所用光电探测器的响应系数；*表示为取复共轭。

4.如权利要求1～3任一项所述方法，其特征在于，该方法还包括：在不同的微波频率ω_e处得到待测光器件在ω_c±ω_e两个频率处的幅相响应，将这些幅相响应合成，得到待测光器件的宽带幅相响应。