[发明专利]一种微型非晶丝GMI磁传感器及其加工方法在审
申请号: | 201710825386.3 | 申请日: | 2017-09-14 |
公开(公告)号: | CN107741576A | 公开(公告)日: | 2018-02-27 |
发明(设计)人: | 李建华;陈佳文;徐立新;李夷渊;陈玉龙 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01R33/06 | 分类号: | G01R33/06 |
代理公司: | 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙)11639 | 代理人: | 毛燕 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 微型 非晶丝 gmi 传感器 及其 加工 方法 | ||
1.一种微型非晶丝GMI磁传感器,其特征在于:包括:硅衬底(1)、线圈、包裹非晶丝两端的铜(5)、非晶丝(6)、非晶丝两端引线(7)、微结构线圈两端引线(8);
连接关系:在硅衬底(1)上固定安装线圈和包裹非晶丝两端的铜(5);非晶丝(6)固定在包裹非晶丝两端的铜(5)内,并悬空放置在线圈中间;所述线圈等间距分布,且线圈与非晶丝(6)形成夹角;包裹非晶丝两端的铜(5)的顶端侧壁上带有非晶丝两端引线(7);靠近包裹非晶丝两端的铜(5)的线圈顶端侧壁上带有微结构线圈两端引线(8)。
2.如权利要求1所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器,其特征在于:还包括负光刻胶(9),负光刻胶(9)涂在硅衬底(1)上部将所有部件包裹其中,需保证线圈顶面、包裹非晶丝两端的铜(5)的顶面、非晶丝两端引线(7)和微结构线圈两端引线(8)裸露在外。
3.如权利要求1或2所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器,其特征在于:所述线圈的数量至少为两个。
4.制备如权利要求1或2所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器的方法,其特征在于:方法一:一种微型非晶丝GMI磁传感器的加工方法,具体步骤如下:
步骤一、清洗处理硅衬底(1);
步骤二、在硅衬底正面采用磁控溅射的方法溅射Cr/Cu种子层;
步骤三、依次进行旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影3min,形成线圈底层导线凹槽;
步骤四、将铜电镀在凹槽处形成线圈的微结构线圈底层导线(2);
步骤五、用丙酮去掉正光刻胶,露出种子层;
步骤六、在底层导线上方横置非晶丝(6)并将其固定;
步骤七、在非晶丝(6)两端电镀铜(5),使非晶丝两端与硅衬底上的Cr/Cu种子层连接并将非晶丝引线覆盖在内;
步骤八、涂一层较厚的正光刻胶,烘胶、曝光、显影,形成微电感柱子深槽;
步骤九、将铜电镀在微电感柱子深槽处形成线圈的微结构线圈柱子(3);
步骤十、丙酮去掉正光刻胶,刻蚀种子层;
步骤十一、旋涂负光刻胶(9),并对光刻胶(9)减薄、抛光至露出微结构线圈柱子(3);
步骤十二、在负光刻胶(9)上溅射一层Cr/Cu种子层,并旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影,得到顶层导线凹槽;
步骤十三、将铜电镀在顶层导线凹槽处形成线圈的微结构线圈顶层导线(4);
步骤十四、丙酮去掉正光刻胶,刻蚀种子层,即得到微型非晶丝GMI磁传感器。
5.制备如权利要求1或2所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器的方法,其特征在于:方法二:一种微型非晶丝GMI磁传感器的加工方法,具体步骤如下:
步骤一、清洗处理硅衬底(1);
步骤二、在硅衬底正面采用磁控溅射的方法溅射Cr/Cu种子层;
步骤三、依次进行旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影3min,形成底层导线凹槽;
步骤四、将铜电镀在凹槽处形成线圈的微结构线圈底层导线(2);
步骤五、用丙酮去掉正光刻胶,露出种子层;
步骤六、在底层导线上方横置非晶丝(6)并将其固定;
步骤七、在非晶丝(6)两端电镀铜(5),使非晶丝两端与硅衬底上的Cr/Cu种子层连接并将非晶丝引线覆盖在内;
步骤八、涂一层较厚的正光刻胶、烘胶、曝光、显影,形成微电感柱子深槽;
步骤九、将铜电镀在微电感柱子深槽处形成线圈的微结构线圈柱子(3);
步骤十、对正光刻胶表面抛光至露出微结构线圈柱子(3),并溅射一层Cr/Cu种子层,再旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影,得到顶层导线凹槽;
步骤十一、将铜电镀在顶层导线凹槽处形成线圈的微结构线圈顶层导线(4);
步骤十二、丙酮去掉上层正光刻胶,刻蚀种子层;
步骤十三、丙酮去掉下层正光刻胶,刻蚀种子层,即得到微型非晶丝GMI磁传感器。
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