[发明专利]一种微型非晶丝GMI磁传感器及其加工方法在审

专利信息
申请号: 201710825386.3 申请日: 2017-09-14
公开(公告)号: CN107741576A 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 李建华;陈佳文;徐立新;李夷渊;陈玉龙 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01R33/06 分类号: G01R33/06
代理公司: 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙)11639 代理人: 毛燕
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微型 非晶丝 gmi 传感器 及其 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种微型非晶丝GMI磁传感器,其特征在于:包括:硅衬底(1)、线圈、包裹非晶丝两端的铜(5)、非晶丝(6)、非晶丝两端引线(7)、微结构线圈两端引线(8);

连接关系:在硅衬底(1)上固定安装线圈和包裹非晶丝两端的铜(5);非晶丝(6)固定在包裹非晶丝两端的铜(5)内,并悬空放置在线圈中间;所述线圈等间距分布,且线圈与非晶丝(6)形成夹角;包裹非晶丝两端的铜(5)的顶端侧壁上带有非晶丝两端引线(7);靠近包裹非晶丝两端的铜(5)的线圈顶端侧壁上带有微结构线圈两端引线(8)。

2.如权利要求1所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器,其特征在于:还包括负光刻胶(9),负光刻胶(9)涂在硅衬底(1)上部将所有部件包裹其中,需保证线圈顶面、包裹非晶丝两端的铜(5)的顶面、非晶丝两端引线(7)和微结构线圈两端引线(8)裸露在外。

3.如权利要求1或2所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器,其特征在于:所述线圈的数量至少为两个。

4.制备如权利要求1或2所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器的方法,其特征在于:方法一:一种微型非晶丝GMI磁传感器的加工方法,具体步骤如下:

步骤一、清洗处理硅衬底(1);

步骤二、在硅衬底正面采用磁控溅射的方法溅射Cr/Cu种子层;

步骤三、依次进行旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影3min,形成线圈底层导线凹槽;

步骤四、将铜电镀在凹槽处形成线圈的微结构线圈底层导线(2);

步骤五、用丙酮去掉正光刻胶,露出种子层;

步骤六、在底层导线上方横置非晶丝(6)并将其固定;

步骤七、在非晶丝(6)两端电镀铜(5),使非晶丝两端与硅衬底上的Cr/Cu种子层连接并将非晶丝引线覆盖在内;

步骤八、涂一层较厚的正光刻胶,烘胶、曝光、显影,形成微电感柱子深槽;

步骤九、将铜电镀在微电感柱子深槽处形成线圈的微结构线圈柱子(3);

步骤十、丙酮去掉正光刻胶,刻蚀种子层;

步骤十一、旋涂负光刻胶(9),并对光刻胶(9)减薄、抛光至露出微结构线圈柱子(3);

步骤十二、在负光刻胶(9)上溅射一层Cr/Cu种子层,并旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影,得到顶层导线凹槽;

步骤十三、将铜电镀在顶层导线凹槽处形成线圈的微结构线圈顶层导线(4);

步骤十四、丙酮去掉正光刻胶,刻蚀种子层,即得到微型非晶丝GMI磁传感器。

5.制备如权利要求1或2所述的一种微型非晶丝GMI磁传感器的方法,其特征在于:方法二:一种微型非晶丝GMI磁传感器的加工方法,具体步骤如下:

步骤一、清洗处理硅衬底(1);

步骤二、在硅衬底正面采用磁控溅射的方法溅射Cr/Cu种子层;

步骤三、依次进行旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影3min,形成底层导线凹槽;

步骤四、将铜电镀在凹槽处形成线圈的微结构线圈底层导线(2);

步骤五、用丙酮去掉正光刻胶,露出种子层;

步骤六、在底层导线上方横置非晶丝(6)并将其固定;

步骤七、在非晶丝(6)两端电镀铜(5),使非晶丝两端与硅衬底上的Cr/Cu种子层连接并将非晶丝引线覆盖在内;

步骤八、涂一层较厚的正光刻胶、烘胶、曝光、显影,形成微电感柱子深槽;

步骤九、将铜电镀在微电感柱子深槽处形成线圈的微结构线圈柱子(3);

步骤十、对正光刻胶表面抛光至露出微结构线圈柱子(3),并溅射一层Cr/Cu种子层,再旋涂正光刻胶、烘胶、曝光、显影,得到顶层导线凹槽;

步骤十一、将铜电镀在顶层导线凹槽处形成线圈的微结构线圈顶层导线(4);

步骤十二、丙酮去掉上层正光刻胶,刻蚀种子层;

步骤十三、丙酮去掉下层正光刻胶,刻蚀种子层,即得到微型非晶丝GMI磁传感器。

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