[发明专利]一种X射线图像的对比度增强方法在审

专利信息
申请号: 201710830068.6 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN107798660A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 黄茜;周洲;胡志辉 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/40
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司44245 代理人: 刘巧霞
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 射线 图像 对比度 增强 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及图像增强技术,具体涉及一种高动态范围的X射线图像的对比度增强方法。

背景技术

随着图像传感器的发展,X射线图像探测器的灰阶已由8bit发展到16bit,图像的灰阶越高,包含的图像细节信息越多。如果灰阶变高,仍映射至相同灰阶范围显示,则显然高灰阶的灰度级间距离小于低灰阶的,说明对同样内容的图像,前者灰度变化的梯度值小,灰度变化平缓,相邻灰度间对比度低。为了提高灰阶范围宽的图像局部即感兴趣区域的对比度,同时,不改变感兴趣区域中各像素之间的灰度关系,传统的做法是在图像灰度的直方图上,提取代表感兴趣区域灰度信息的一个灰度区域,也称窗口区域,将窗内灰度映射至显示的灰阶范围,将窗外的高灰度和低灰度分别压缩至灰阶窗口的上界和下界,这种方法称为调窗技术,使感兴趣区域灰度的级间距离得到拉伸,提高灰度级间的对比度。

通常调窗是将感兴趣灰度区域映射至8bit的图像显示装置,使人眼容易观察到更清晰的图像。在现代工业应用中,而是要求准确并自动地将感兴趣的区域灰度提取出来并获得最大的级间差,增大图像的对比度。针对特定图像,如医学CT和MRI图像,南昌航空工业学院周振环等提出基于灰度联通性的种子生长方法确定窗口信息。苏州大学的吕磊等提出直接用最高和次高峰值点计算窗口信息。但上述方法的对象依赖性太强,不同领域图像的特点差异较大,上述方法虽然针对透视人体的医学CT、MR取得较好的效果,但是对于透视工件的工业X射线图像则不能满足应用要求。

为此,研究一种适用于X射线图像的对比度增强具有重要的实用价值和研究意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足,提供一种X射线图像的对比度增强方法,该方法特别针对铸造类工业产品的X射线图像进行对比度增强,能够解决高bit灰度射线图像存在信息冗余问题,增强方法具有处理速度快,准确率高的优点。

本发明的目的通过以下的技术方案实现:一种X射线图像的对比度增强方法,包括步骤:

(1)采集工件灰度图像;

(2)计算图像的灰度直方图;

(3)对灰度直方图进行分帧;

(4)计算图像中第i帧的短时能量;

(5)将第i帧的短时能量与预先设定的上下门限值进行比较,判断当前帧的状态,从中筛选出为有用信号的灰度段,将每段有用信号中最高和最低灰度值对记录在集合D中;

(6)根据集合D自动确定窗位,然后将选定的窗位内的灰度值映射至0-255的灰度区间内。

本发明针对铸造类工业产品提出上述基于分帧短时平均能量的判断方法,确定感兴趣区域的灰度区间后,映射至原灰阶区域以提高感兴趣区域的对比度,为后续的图像自动分析识别提供图像在线自动增强方法,确保质量检测过程具有高自动化。

优选的,所述步骤(1)中,采集工件灰度图像的步骤是:将PC机与X射线系统的平板探测器连接,在每一个检测工位进行图像采集,数据采集模块获取工件图像并存储至内存。本发明特别针对灰阶为16位的X射线图像探测器探测得到的灰度图像。

优选的,在所述步骤(2)计算得到灰度直方图后,对所述直方图进行移动均值平滑,即定义一个窗宽为M的滑动窗口,取窗内M个数据点的均值作为滑动窗中心点的灰度值。从而便于后面的数值处理,减少噪声。

优选的,所述步骤(3)中,对灰度直方图进行分帧的步骤是:定义N个灰度间隔作为帧长,h个灰度间隔作为移帧值,则第i帧包括的灰度值范围为:[(i-1)N,iN-1],其中F表示当前灰度图像灰阶对应的二进制最大数。例如,如果当前采集的图像灰阶为16bit,F就取值65535。

优选的,所述步骤(4)中,第i帧的短时能量的计算公式是:

其中,N为帧长,C(j)是灰度值为j的像素个数,T为一幅图像的像素总数。

优选的,所述步骤(5)中,筛选出为有用信号的灰度段的步骤是:

预先设定上门限值为VH,下门限值为VL

设定若第i帧的短时能量满足VL<Ei(N)<VH,将该帧定为待定帧;如果满足VH<Ei(N),将该帧定为有用帧;如果Ei(N)<VL则定为无用帧;

若当前帧被判定为待定帧和有用帧,则将该帧放入集合S中,定义集合S中元素数量为card(S);

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710830068.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top