[发明专利]指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统

权利要求书

1.一种指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：建立标准参考指纹图谱；

步骤2：获取待测样品指纹图谱；

步骤3：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R₁；

步骤4：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R₂；

步骤5：基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度：

其中δ为权重因子，其值范围是0≤δ≤1；u和v分别为R₁和R₂的灵敏度因子，取值范围分别为0≤u≤+∞与0≤v≤+∞。

2.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述相关系数计算公式如下：

其中，x_i和s_i分别表示待测样品和标准参考样品指纹图谱的第i个色谱峰的峰面积、峰高或图谱的强度；n表示色谱峰的个数或波长点数；和分别为待测样品和标准参考样品指纹图谱的平均峰面积、平均峰高或图谱的平均强度。

3.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述差异相似系数计算公式如下：

其中，x_i和s_i分别表示待测样品和标准参考样品指纹图谱的第i个色谱峰的峰面积、峰高或图谱的强度；n表示色谱峰的个数或波长点数；和分别为待测样品和标准参考样品指纹图谱的平均峰面积、平均峰高或图谱的平均强度。

4.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，δ，u和v的默认值为0.5,1和1。

5.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述标准参考指纹图谱是选定标准参考样品的指纹图谱，或根据按照有关技术要求由测定的多个批次样品的指纹图谱生成。

6.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述计算方法能够用于样品的质量检测和相同或不同类型样品之间的质量差异检测。

7.如权利要求6所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，其中，通过调整参数δ，u和v，能够增加不同类型样品之间相似度的差异性。

8.一种用于指纹图谱相似度计算的装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤，包括：

步骤1：建立标准参考指纹图谱；

步骤2：获取待测样品指纹图谱；

步骤3：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R₁；

步骤4：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R₂；

步骤5：基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度：

其中δ为权重因子，其值范围是0≤δ≤1；u和v分别为R₁和R₂的灵敏度因子，取值范围分别为0≤u≤+∞与0≤v≤+∞。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，用于指纹图谱相似度计算，其特征在于，该程序被处理器执行时执行以下步骤：

步骤1：建立标准参考指纹图谱；

步骤2：获取待测样品指纹图谱；

步骤3：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R₁；

步骤4：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R₂；

步骤5：基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度：

其中δ为权重因子，其值范围是0≤δ≤1；u和v分别为R₁和R₂的灵敏度因子，取值范围分别为0≤u≤+∞与0≤v≤+∞。

10.一种样品质量评价系统，其特征在于，包括检测器和计算装置；

所述检测器，用于在相同条件下测定标准参考样品和待测样品的指纹图谱并传输至所述计算装置；

所述计算装置包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤，包括：

接收标准参考样品的指纹图谱，作为标准参考指纹图谱；

接收待测样品指纹图谱；

计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R₁；

计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R₂；

基于默认参数值或接收用户对于综合相似度的参数值的设定，根据所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度：

其中δ为权重因子，其值范围是0≤δ≤1；u和v分别为R₁和R₂的灵敏度因子，取值范围分别为0≤u≤+∞与0≤v≤+∞；

基于默认阈值或接收用户对于阈值的设定，将综合相似度与设定阈值进行比较，若所述综合相似度不小于所述阈值，则该样品合格，否则不合格。